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11.
用XPS测量了Pt/InP肖特基接触界面的芯态谱和价带谱,结合AES测量,提出了在界面形成磷化铂的实验证据.同时也测到Pt4f两自旋分裂峰强度比随光电子发射角的反常变化.  相似文献   
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