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21.
研究恒流和恒压两种电晕充电方法极化后的聚丙烯(Polypropylene,PP)无纺布驻极体的电荷储存能力,以及极化参数对电荷稳定性的影响.结果表明,恒压电晕充电的样品具有较好的电荷稳定性,而恒流电晕充电的样品能储存较高的电荷密度.高温充电可以明显地改善聚丙烯无纺布的电荷稳定性.  相似文献   
22.
通过栅控恒压负电晕充电、等温表面电位衰减测量、热刺激放电(Thermally Stimulated Discharge,TSD)电流谱分析、电荷TSD和压电d33系数测量等方法,首次研究了将旋涂在基片上的含一定溶剂的聚偏氟乙烯和六氟丙烯共聚物(P(VDF-HFP))薄膜与多孔聚四氟乙烯薄膜均匀压合形成的多孔PTFE/P(VDF-HFP)双层复合膜系的驻极体性质.从多孔PTFE面充电的双层膜具有较从P(VDF-HFP)面充电优异的多的电荷热稳定性.使用介电谐振谱测量的双层膜的压电d33系数(31pC/N)是传统的铁电聚合物材料PVDF相应值(15 pC/N)的2倍左右.  相似文献   
23.
驻极体是具有长期贮存电荷性质的介质材料。自从 Heaviside 1892年首先提出“驻极体”(EIectret)后,驻极体的发展已有近百年的历史。1919年日本物理学家 Eguchi 利用片状巴西棕榈蜡通过热极化制成世界上第一块人工驻极体后,对驻极体才逐步开始较系统  相似文献   
24.
通过X-射线光电子光谱(XPS),研究了蒸发淀积Al与Teflon AF薄膜间的相互作用,高分辨率A12p,O1s,C1s和F1s XPS光谱分析表明在Al和Teflon AF界面处有Al的氟化物(AlxFy)以及C-O-Al有机化合物的形成,考虑到蒸发淀积Al前后,CF3基团降低和CF2基团增加,可以认为AlxFy中氟的来源主要是由于CF3基团中一个C-F键断裂而失去的氟离子,同时产生的CF2游离基与其它游离基间结合,导致界面处CF2基团增加。  相似文献   
25.
通过和杜邦公司产KaptonH商品膜驻极体性能比较,系统研究了由国产ZPKI型聚酰亚胺前体溶液制备薄膜的驻极体性能。通过常温和高温正负电晕充电,补偿法表面电位衰减测量及开路热刺激放电(TSD)电流谱等技术,研究了常温和高温驻极时PI膜的电荷稳定性及其电荷输运特性,高温致密化处理对样品驻极体性能的影响,以及正负电晕充电稳定性的化学结构分析。  相似文献   
26.
本文讨论了TeflonFEPA型膜(美国杜邦公司)和国产FEP膜(上海塑料研究所)的充电温度、充电时间和充电时环境湿度对注入正电荷的平均电荷重心的影响。研究了充电电荷在样品体内的输运规律。并对TeflonFEPA型膜和国产FEP膜的正电荷在材料内的迁移及其稳定性等驻极体性能作了比较性研究。  相似文献   
27.
本文讨论了热处理(包括高温电晕充电,常温电晕充电后的老化(或退火),以及充电前的淬火)对高聚物薄膜驻极体材料的电荷贮存稳定性的影响。根据固体介质的能级理论和从热处理引起材料物性变化的角度,阐明了热处理对驻极体材料改性的结构根源。  相似文献   
28.
由于驻极体在传感、过滤,辐射计量等方面的广泛应用,驻极体的研究已成为电介质物理、电子材料和传感器领域中的重要学科,对驻极体的电荷储存、脱阱和输运的研究是研究驻极体的机理,驻极体材料的形成和改性,驻极体器件的开发和应用的基础。研究各种条件下驻极体体内的电荷重心是实现上述目标的重要方法,本文介绍我们实验室建立的国内第一套测量双面镀金属膜的驻极体薄膜的体内电荷重心的热脉冲装置,并对双面热脉冲和单面热脉冲  相似文献   
29.
研究了具有开放性孔洞的聚四氟乙烯(voided polytetrafluoroethylene,PTFE)多孔膜和PP蜂窝膜(polypropylene cellular)的驻极体行为和压电活性的温度效应。研究结果指出:和PP蜂窝膜驻极体相比.PTFE多孔膜驻极体呈现出突出的电荷储存和压电活性的温度稳定性;研究了这类稳定性的驻极体和材料的结构根源。PTFE多孔薄膜驻板体这种压电活性的温度稳定性主要依赖于这类驻极体材料电荷储存及材料的本征性能(如力学性质等)的温度稳定性。实验结果还说明:PTFE多孔膜突出的压电系数温度稳定性使它大大扩展了以包括PP在内的空间电荷型多孔膜研制的压电功能元器件的耐温要求。本文还讨论了环境因素(如相对湿度)对这类功能膜压电活性的影响,分析了环境湿度对压电活性影响的结构根源。  相似文献   
30.
微孔结构交联聚丙烯驻极体的储电性研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
压电驻极体是以双极性空间电荷驻极体为基体的新一类人工微结构压电功能材料,其压电性能与基体材料的储电性有直接关系.采用等温表面电位衰减测量和开路热刺激放电实验方法,研究了经热压处理的交联聚丙烯(XPP)膜中电荷储存稳定性和电荷动态特性.结果表明,XPP中正电荷的储存稳定性强于负电荷;在老化温度低于90℃时,经过5120min时间老化,正电晕充电样品的表面电位仍然能够维持在初始表面电位的90%以上,而负电晕充电样品却低于86%;热激发脱阱的负空间电荷在驻极体内电场的作用下迁移的过程中大部分被更深的能阱捕获,即脱阱电荷的榆运规律受快再捕获效应控制.  相似文献   
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