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针对现有的印刷电路板(PCB) 缺陷检测方法计算量大、小目标缺陷易漏检、检测速度较慢等问题,提出 YOLOv8n- 4SCDP缺陷检测算法。首先,在YOLOv8n 颈部网络增加上采样,融合 Backbone 中浅层语义信息,同时增加微小目标检测层 降低PCB小目标缺陷漏检率;其次,在Backbone 中融入坐标注意力(CA) 机制,强化特征语义和位置信息,提高了模型特征融 合能力;另外,设计密集连接机构,提高模型的缺陷特征利用率,采用PConv对模型进行压缩,既保证了模型的准确性,又大大 减小了模型的尺寸;最后,针对难易样本不平衡的问题,采用线性区间映射法重新定义回归损失函数(Focaler-SIoU),提高模 型收敛速度和回归精度。实验结果表明,YOLOv8n-4SCDP 算法的整体缺陷的平均精度均值(mAP) 达到95.8%,检测帧率达 到了65 fps。有效改善YOLOv8n 对于PCB小目标缺陷漏检率高、检测精度低等问题。 相似文献
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