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孙以材 《河北工业大学学报》1984,(2)
硅外延层上的自然氧化层中的界面态,使汞—硅接触肖特基二极管反向偏置 C—V 特性偏离理想情况,给外延层杂质纵向浓度分布测定带来较大误差。当正向偏置电压为自建电势0.6V 时的归一化电容值如果明显偏离按外延层杂质浓度和自然氧化层厚度计算出来的平带电容值,就判明有界面态存在。将样品在化学纯氢氟酸中漂洗7分钟以上即可使界面态减少到不可察觉的程度,然后再进行 C—V 测量,可保证测定结果的正确性。 相似文献
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用有限元法计算了用Rymaszewski公式测量矩形样品薄层电阻时的理论误差与针距及其游移度、探针离开边界距离的关系;找出了实际测量时误差小于±3%可放置直线四探针的中央区宽度,并给以实验验证.这将对小矩形样品薄层电阻的测量有实用价值.同时对利用无限系列镜像源理论证明得出小矩形样品的方块电阻测量不受样品边界和探针游移的影响的新方案提出了异议. 相似文献
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孙以材 《河北工业大学学报》1983,(1)
本文综述了点缺陷络合体对半导体性能的影响,指出研究点缺陷络合体的重要性。又利用群论阐明了点缺陷络合体结构的对称性以及络合体简振模和电子轨道与对称性的关系。最后述评了红外吸收和电子顺磁共振吸收检测点缺陷络舍体,因而络合体中的原子配置和电子轨道结构可以测定出来。 相似文献
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本文详细的分析了自平衡电桥激励的压力传感器的输出信号U与桥电压Ve、供电电压V cc及流体压力P之间的关系,并指出,不仅对桥电压而且对总激励电压都存在零点电漂移.在U~Vcc、P的三维空间表达了三者之间典型关系曲线.在U0|Vcc0=0的等势面(Vcc0)上显示出高的压力灵敏度,而在U0/Ucc=0的等势面(≈ 1 2 Vcc0)上,压力灵敏度则低的多.建议零点输出的电漂移应作为压力传感器的一个特性指标. 相似文献
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