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目前测量X诊断医用辐射源的半值层的方法基本采用人工叠加吸收片,测量出射线穿透不同厚度吸收片后的照射量,从而采用绘图方法或插入法计算X诊断医用辐射源的半值层[1],该方法曝光次数多,光机损伤大,操作不方便。为了准确测量诊断X射线的辐射质,减少工作量,设计一种电离室阵列测量方案,通过单次测量不同厚度吸收片下的剂量值,根据衰减曲线插值计算得到给定千伏下的半值层。通过测试比较,电离室阵列测量方案操作简单,数据准确,曝光次数少,能减少光机的损耗,具有较高的应用前景。 相似文献
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一些建筑陶瓷新术语的译名 总被引:1,自引:1,他引:0
本文介绍了建筑陶瓷行业近年出现的一些新术语,并就这些新术语的定义和译名进行了讨论。 相似文献
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LSM是一款支持多种安全策略的、为Linux内核开发的轻量级通用访问控制框架,这种访问控制框架能使各类访问控制模型作为动态内核模块执行。本文简要介绍了LSM的相关背景和设计思想,讨论了LSM的具体实例,并介绍了我们的设计方案。 相似文献
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从2004年到2011年,陶瓷行业连续8年呈现增长态势,并且每年都以两位数增长,甚至出现了20%以上的增长速度,这是非常罕见的。2012年,受国际国内大环境影响,陶瓷行业增长速度明显放慢,不少人由此认为,陶瓷行业的高速增长走到了尽头。 相似文献
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