爆炸物及相关混合材料的太赫兹波谱

对单质环三亚甲基三硝胺（RDX）、环四亚甲基四硝基胺（HMX）、钝感RDX炸药以及多种以单质炸药为主体成分的混合炸药进行了太赫兹谱的试验测量和理论分析。利用太赫兹时域光谱技术（THz-TDS）,给出了炸药样品在0．2～2．5THz范围内的折射率和吸收系数。结果发现,单质炸药RDX、钝感RDX与六种以RDX为主要成分的混合炸药具有相同的特征吸收峰;单质炸药HMX与混合炸药8702具有相同的特征吸收峰。试验结果表明,利用THz-TDS技术可以对单质炸药以及以其为主体成分的混合炸药进行检测和鉴别。     

光致各向异性记录介质偏振全息图的透射矩阵

在给定参、物光波的偏振态和位相差关系以后,用光致各向异性介质记录的偏振全息图的光学常数分布被确定。这样,可以把偏振全息图看作是一种复杂的偏振元件。按照偏振元件的矩阵理论,可以求出偏振全息     

全息干涉法在表面封装组件质量检测中的应用

利用二次曝光全息干涉技术对表面封装组件(SMA)在功率循环中的离面变形场进行了测试.为解决从器件边缘到印制电路板(PCB)间干涉条纹级次的不连续问题,实验中采用了"搭桥"技术来处理表面封装器件(SMD)和PCB的变形失配;此外,全息干涉技术还被用于一个实际产品(硬盘驱动器)的无损在线检测.结果表明:模塑J引线封装体(PLCC)和PCB由于中心热源及材料的热膨胀系数差而导致离面弯曲变形;沿器件边缘,引线和焊点经历了非共面的离面变形;通过正常硬盘驱动电路板和失效板的干涉条纹数量的对比,能快速简捷地检测板的质量.全息干涉测量法在微电子技术可靠性分析领域有广泛的应用前景.     

基于脉冲位相的红外热波无损检测法测量缺陷深度

提出了基于脉冲位相分析的数据处理方法以实现红外热波无损检测法对缺陷深度的测量.对脉冲红外热波无损检测的时间信号进行傅里叶变换(FFT),提取位相频率信息,根据热波频率与传导深度的关系完成缺陷深度的检测.以热传导较快的铝材料为例,对自行设计的深度不同的平底洞缺陷进行实验,并通过应用Matlab的FFT分析得到不同深度平底洞缺陷在不同频率下的位相曲线,同时,应用VC++得到位相序列热图.实验结果表明了脉冲位相对缺陷深度检测的可行性,缺陷实际深度与实验深度存在d≈1.98 μ的关系,同时位相图有效抑制了噪声的干扰,为材料和结构内部缺陷检测提供了一种有效处理方法.