Stacking Fault in γ’ Precipitate of Single Crystal Nickel Base Superalloy DD8 After Out-of-Phase Thermo-Mechanical Fatigue

对镍基单晶高温合金DD8在恒机械应变控制下的反位相（OP）热机械疲劳（TMF）实验后的微观结构进行了研究。结果表明，DD8单晶经过OP TEM后γ′沉淀相被Schockley不全位错剪切，而不是象在等温疲劳（IF）那样是被位错对剪切。经过分析得出，γ′沉淀相是被位错对还是Schockley不全位错剪切，在适当的温度下，与形变的速度和施加的应力大小有很大的关系。     

双相合金Mg-8Li-1Al的等通道转角挤压Ⅰ.挤压过程中的变形方式

以X射线衍射分析术为主要分析手段，探讨了双相合金Mg-8Li-1Al(质量分数，％)在等通道转角挤压(ECAP)变形过程中的变形方式，α相在第1道次ECAP过程中主要的变形方式是{10-↑11}(-↑1012)孪生，在随后道次的ECAP过程中主要变形方式为位错滑移，变形方式的转变主要是由于ECAP造成的组织细化效应；对于β相，各道次ECAP的主要变形方式均为位错滑移。     

疲劳过程中垂直晶界Cu双晶形变带中位错组态与裂纹形核

采用电子通道衬度技术对垂直晶界Cu双晶在疲劳过程中位错组态的演化与裂纹的形核进行了研究、结果表明，形变带中墙结构的间距从形成之初到疲劳裂纹出现始终保持恒定；穿晶裂纹与沿晶裂纹尖端的位错组态均为胞结构；裂纹优先从形变带产生．     

DD8单晶镍基高温合金热机械疲劳后的微观结构

透射电镜(TEM)观察表明、DD8单晶镍基高温合金经过热机械疲劳(TMF)后，在同位相(IP)和反位相(OP)加载的条件下，合金内部的位错组态和γ′沉淀相的形貌有很大的区别．在IP加载条件下，垂直应力轴的γ／γ′相界面上存在着密集的六角形位错网、平行应力轴的相界面上存在的是四边形的位错网，而且在小机械应变幅下，γ′相出现明显的筏化现象、并且随着应变幅的增加，γ′沉淀相的筏化现象也越来越不明显．在OP加载条件下，在γ／γ′相界面上则没有位错网被观察到，γ′被层错剪切，并且没有明显的筏化出现．     

高强度钢压力容器疲劳锻练的热图研究SCIEI

用红外热成像系统实时监测了高强度压力容器在工作压力下的疲劳打压过程．在疲劳循环初始由热图获得的ＩＲＣＥ效应，可以确定压力容器的应力集中区域。打压泄漏的位置证明，由热图测定应力集中区域是可行的。实验发现压力容器疲劳软化和硬化效应，采用Ｇｌｏｇａｌ座标对筒状薄壁压力容器的应力分布计算表明，热图和计算的结果是吻合的。实验证明，在工作压力下的疲劳锻练效应将会延长压力容器的使用寿命。     

隐框玻璃幕墙结露实例计算分析

通过相关学科理论对结露问题做了定性和定量的分析,并对半隐框玻璃幕墙进行结露计算.幕墙体系设计时应综合考虑当地环境、节点形式、室内室外温度、面板材质等实际情况,以避免结露现象的产生.     

单晶体微观层次变形率相关性的分析

在分析金属晶体材料的微观层次的应力－应变关系时，将滑移引入到本构关系中，考虑了变形的率相关性，引入了新的硬化规律和硬化函数，采用三维模型进行了有限元分析，使计算结果与实验结果更加接近，并且计算了率相关系数的变化对不同取向的单晶体的应力－应变关系的影响。     

循环形变下纯钛中两种γ氢化物的不同变形行为

在含氢量（质量分数）为0.0077%的工业纯钛中，观察了两种具有同样结构的γ氢化物的变形行为。利用扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）对循环载荷下滑移、孪生对两种γ氢化物的相互作用进行了观察。发现在循环形变I型氢化物能够通过滑移机制发生塑性变形，甚至完全碎化，而不会形成孔洞。而Ⅱ型氢化物则难以发生塑性变形。分析了氢化物塑性变形的晶体学机制。     

[013]取向Cu单晶体在NaCl水溶液中腐蚀疲劳位错结构的观察

利用扫描电镜电子通道衬度技术(SEM-ECC)和透射电子显微镜(TEM)对[013]取向Cu单晶体在空气中和NaCl水溶液中疲劳到饱和的位错结构进行观察。结果表明：在0．5mol／L NaCl水溶液中，腐蚀疲劳饱和位错结构主要是迷宫和脉络位错结构，这与空气中的驻留滑移带(PSBs)和脉络位错结构不同。腐蚀疲劳饱和位错结构的观察表明，介质对疲劳位错结构的影响相当于在其它条件都不变的情况下，增大了疲劳的塑性切应变幅。     

Ti-62222合金的热机械疲劳行为

研究了Ti-62222合金在200-400℃内不同机械应变幅的热机械疲劳(TMF)行为和等温疲劳(IF)行为.结果表明,200℃的IF寿命高于400℃的IF寿命,同相位的TMF寿命高于反相位的TMF寿命.IF寿命与TMF寿命对比,同相位的TMF寿命高于200℃的IF寿命,反相位的TMF寿命高于400℃的IF寿命.在不同应变幅下,TMF应力响应曲线和IF应力响应曲线不同.SEM断口和纵向剖面金相观察表明,穿晶断裂是主要破坏方式.