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11.
研究了通过磁控溅射方法制备高纯金属铀膜的可行性。采用X射线衍射(XRD)、俄歇电子能谱(AES)、扫描电镜(SEM)、表面轮廓仪分析了沉积在单晶硅或金基材上铀薄膜的微观结构、成分、界面结构及厚度、表面形貌和表面粗糙度。分析结果表明:磁控溅射制备的铀薄膜为纯金属态,氧含量和其它杂质含量均低于俄歇电子能谱仪的探测下限;溅射沉积的铀镀层与铝镀层之间存在界面作用,两者相互扩散并形成合金相,扩散层厚度约为10nm。铀薄膜厚度可达微米级,表面光洁,均方根(RMS)粗糙度优于15nm。 相似文献
12.
针对实际环境下印刷电路板(PCB)缺陷样本难以收集造成的数据长尾分布和检测精度低以及 ViT 用于检测时计算
复杂度高等问题,提出多尺度 ViT 特征提取和注意力特征融合的端到端 PCB 缺陷检测算法。 首先结合 ViT 和部分卷积构建
多尺度特征提取网络,利用层级多头注意力对不同尺度的特征图执行自适应的注意力操作,使网络能够更好地捕捉局部和
全局信息进而增强其特征提取能力,部分卷积可以降低计算开销。 其次,基于能量空域抑制的无参数注意力机制将多尺度
特征有效融合,提升网络融合特征图的表达能力。 最后,引入对类别不均衡敏感的分类函数对网络的损失函数进行改进,增
强网络对类别不平衡数据的拟合程度,提高网络的泛化能力。 在 3 种不同类型的公开 PCB 数据集上的实验结果表明,所提
出的检测算法在 PCB 表面缺陷数据集的平均精度均值(mAP)均有提升,分别为 99. 13% 、98. 67% ,99. 82% ;在类别不均衡的
PCB 缺陷检测任务上,相较于改进前方法,mAP 提升了 11. 94% ,网络检测速度达到 25 FPS,为 PCB 缺陷的检测提供了一种
快速、有效的方法。 相似文献
13.
本文在介绍MIL-STD-883C标准集成电路老化筛选试验方法的基础上,详细介绍了“PIC-4集成电路高温动态老化实时测试系统”的设计过程,包括系统的总体结构、软硬件设计及其关键技术。 相似文献
14.
有载分接开关是在主变压器带电的情况下,通过改变主变绕组的有效匝数来调整变比,使主变输出所需要的电压。主变在试运中的循环调压试验,是对分接开关切换、控制及整体功能进行的一次全面测试。然而,循环调压试验在主变首次充电前后哪一个环节中进行,目前是主变验收试运中一个有争议的问题。现就区域变电所一般使用的降压型主变(有载调压开关一般装设在高压电源侧)来进行分析。 相似文献
15.
16.
引言 VIA的目标就是有效地提高机群内部IPC(Inter-Process Communication,进程间通讯)的性能。IPC的性能主要取决于软件上的发送和接收消息的开销,也包括数据在网络上的传输时间。这些软件开销来源于协议栈的层数、触发的中断数、进程的上下文切换,以及数据的反复拷贝等等。其中前三项开销与传送的消息大小是无关的,而数据拷贝和数据在网络上的飞行的时间是跟消息大小相关的。快速的处理器可以用更少的时间来执行协议层的代码。为了提高主频,现在的处理器还使用了深度流水线、硬件智能分支预测算法,更多的片上寄存器,更大更快的cache等等。这些投入使得代码执行的速度有很大提高,但是同时也带来更大的不利:当代码的顺序执行被中断,当进程的上下文切换的时候,会有比原来更多的时钟周期的损失。因此,处理器时钟频率的提高并没有直接地带来所预期的结果,没有有效地减少每个消息传递的软件开销。 相似文献
17.
18.
针对引进 BM公司干燥系统冷冻降湿设备老化 ,干空气露点高 ,切片可纺性差的生产状况。采用分子筛吸附除湿技术对进风系统进行改造后 ,干燥系统新风露点降到 -5 0℃以下 ,干切片含水率小于5 0μg/g,能耗明显下降 ,生产成本降低 相似文献
19.
纳米Al粉的结构和性能表征 总被引:1,自引:0,他引:1
采用自悬浮定向流法制备金属纳米A l粉。用透射电镜(TEM)、X射线能量色散谱(EDAX)、X射线衍射(XRD)、紫外-可见光吸收光谱(UV-V is)和差示扫描量热-热重法(DSC-TG)对纳米微晶形貌、粒度、结构和性能进行了研究。结果表明:纳米A l粉的平均粒径为50 nm,颗粒基本为球形,放置半年后含氧量为8.2%,最大的吸收峰出现在波长为253 nm处。在Ar气流中,在780℃时纳米铝粉增重约20%,熔化峰位置为654.8℃,熔化吸热为136 J.g-1。 相似文献
20.