再流焊工艺中表面组装片式元件热应力模拟

文中根据无耦合拟静态热弹性力学理论，采用有限元分析技术，结合ＳＭＴ再流焊工艺，分析了典型表面组装结构的热传输特性与热应力，以清晰、直观的等值线图描绘了再流焊各阶段温度的分布及应力场分布，使人们可定量了解表面组装件在焊接过程中的热传输特性及热应力分布。该方法可用于ＳＭＴ再流焊工艺的优化和温度曲线的计算机辅助设计，有助于提高ＳＭＴ的成品率与产品的可靠性。     

单电子晶体管I-V特性数值分析

在单电子晶体管的正统理论的基础上，建立了平稳条件下I-V特性的数值分析方法。应用该方法计算和分析了温度和栅压对单电子晶体管I-V特性的影响，研究了隧道结构电阻对于库仑台阶及电导振荡的影响，分析了单电子现象产生的条件。     

国产数码相机让我们的天空最美

由IT而起,历经三年多的发展,数码相机在中国已显露出巨大的市场魅力,由于中国经济发展持续走高,数码相机市场也如其他某些高级消费品一样,走下神坛,从而带来一股消费热潮。激烈的市场竞争降低了数码相机的消费门槛,而相对国外的数码相机厂商而言,民族数码企业的作用似乎愈加重要这样的角色必将为     

防范电子邮件病毒守则

由于Windows脚本宿主(Script Host)功能强大,VBScript和JScript脚本语言可以完成操作系统的大部分功能,于是它们也就成了病毒编写者的最爱,利用它们来编制病毒程序不但容易,而且利用电子邮件来传递使得病毒的传播非常迅速,传统的杀毒软件对这种类型病毒的防治总会有一定的滞后性,所以我们必须自己采取一些有效措施来防治这类病毒,以保护的我们的数据和邮件免受侵害。 蠕虫病毒的破坏性大家都有所了解吧?下面以著名的蠕虫病毒Jessica Worm中的部分破坏代码为例来加以分析说明:     

如何选购一块网卡

无论你是普通计算机用户,还是你正准备把你公司的计算机连起来。连网已经不是一件新鲜事,而你要做的第一件事恐怕就是选购一块网卡。网卡(NETWORK INTERFACE CARD)是在物理上连接计算机与网络的硬件设备,是计算机与局域网通信介质间的直接接口。可以说一块高质量的网卡是实现你对网络所有想象和要求的前提。由于网络技术的差异,你要清楚你的网络采用的是什么技术,要求多大的传输率,需要什么的附     

McAfee推广防电子邮件病毒方案

随着网络的逐渐普及,电子邮件也走进了千家万户,成为企业与个人交流信息的主要形式。但是,电子邮件这种快速的、便宜的信息交流方式在为用户带来方便、快捷的同时,也同样给用户带来了不可预测的风险——病毒。据统计,大约80％的病毒感染是由电子邮件所造成的,并且每年还以递增的趋势快速增加着。McAfee针对电子邮件病毒传播日益扩大的趋势,基于业界领先的网关防病毒硬件产     

Wyse推出支持双视频的全新智能网络应用终端系列

Wyse Technology今天宣布推出具有先进显示性能的全新WyseV-Class Dual-Video智能网络应用终端系列。     

Thermal contact conductance at continuous roll-casting interface

The effects of surface roughness, strain rate, friction coefficient and pressure on real contact area were analyzed based on the research of Stupkiewicz. The real contact area model taking account of the effect of friction and deformation of material was obtained. The model of contact conductance at the rolling interface was obtained by integrating the specific feature of heat transfer through the interface of continuous roll-casting. The results indicate that the real contact area increases obviously when the material is under yield, and the real contact area varies inversely with surface roughness, whereas it varies exponentially with friction coefficient, strain rate and pressure, and the power factor depends on strain rate.     

光电耦合器电流传输比的噪声表征

光电耦合器中可俘获载流子的陷阱密度是影响其电流传输比(CTR)的重要因素,并与器件可靠性有密切关系.在器件内部的多种噪声中,1/f噪声可有效地表征器件陷阱密度.本文在研究光电耦合器工作原理以及1/f噪声理论的基础上,建立了光电耦合器的CTR表征模型和1/f噪声模型.在输入电流宽范围变化的条件下,测量了器件的电学噪声和CTR变化,实验结果验证了以上模型的正确性.将CTR模型与噪声模型相结合,得到了CTR与1/f噪声之间的关系.此关系应用于对光电耦合器辐照实验结果的分析,实验结果与理论得到的结论一致.理论与实验结果表明,噪声幅值越大,电流指数越接近于2,则器件的可靠性越差,相同工作条件下CTR的老化衰减量越大,其失效率显著增大.从而证明噪声可表征光电耦合器的CTR并能准确地反映器件的可靠性.     

Buck型小功率DC／DC模块电源总剂量辐照实验研究

用于空间系统的电子元器件和电路性能受辐照累积剂量的严重影响。本文针对一种Buck型小功率DC／DC模块电源进行了电离辐照实验，研究结果表明：随着辐照剂量的增加，该类器件输出电压增大，输入电流增大和整体转换效率降低，且加偏辐照DC／DC模块电源更早出现上述参数退化，其低频噪声参量呈现出与电参数相似但幅度更大的退化趋势。进一步的研究结果表明，其内部的功率MOSFET辐照引起的阈值电压漂移是导致该类电源辐照后输出电压增加的主要原因。本文研究结果可为该类器件的抗辐照性能加固提供实验基础。