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71.
流处理器在科研、国防和生活中有着广泛的应用,但随着人类对计算速度的不断追求,现有的流处理器计算速度已不能满足人们的需求,经研究发现,影响流处理器处理数据速度的是访存的时间,所以减少访存次数是提高流处理器计算速度的关键。通过引入Cordic算法,构建超越函数单元,减少了流处理器在处理流应用中的访存次数,从而提高流处理器的计算速度。  相似文献   
72.
支持片上在线调试是嵌入式SoC设计目标之一;现有的片上调试系统多基于扫描链技术,SoC系统的功能设计和调试设计必须同步,这种紧耦合的设计方法移植性差、通用性弱,与SoC系统IP复用的理念不符;基于此,提出了一种基于片上标准总线的SoC在线调试方法,该方法引入调试主设备的概念,复用片上总线传输实时调试数据,实现了对SOC外围IP的在线调试,同时通过引入调试支持单元和调试处理模块实现了对处理器主设备的总线访问调试;该方法适用于以标准总线结构互联的SOC系统,具有适用性广、调试功能丰富、调试接口多样、调试效率高等优点;该方法在以SPARC处理器为处理核心、AMBA总线为互联的SoC系统中进行了实现和在线调试验证,实验表明满足SoC的调试需求。  相似文献   
73.
双面太阳电池是指硅片的正面和反面都可以接受光照并产生光生电压和电流的太阳电池,由于受到结构等各种因素的影响,目前还没有完善的测试方案用于双面太阳电池的完整测试。基于太阳能仿真环境PC1D,采用控制变量的方法来测定电池背面反射率对双面太阳电池综合转换效能的影响,研究了双面电池在不同背面受光条件下的测试结果,得出电池背面背景反射率增大时,双面太阳电池的综合转换效能的变化规律;确定了双面电池合理的测试条件,给出了双面电池科学的测试方案。结论对双面太阳电池的测试和应用具有重要意义。  相似文献   
74.
针对使用改进非对称多通道(IAMCS)路由器的片上网络(NoC)的最坏延迟上界问题,提出了一种基于网络演算的分析方法。通过对IAMCS路由器中流控阻塞、交换阻塞和通道阻塞进行分析,建立了与之对应的等价服务模型。将路由器服务模型扩展到对整个网络的分析,建立了前向等价服务分析网络。借助冲突树演算模型,推导了网络提供给流量的端到端等价服务曲线,进而得到了延迟上界模型。实验结果表明:该延迟上界模型可以界定仿真的最大延迟,且上界是紧致的。  相似文献   
75.
修改芯片中的电路拓扑结构以及版图结构实现抗辐射性能,并最终通过商用半导体工艺制造线生产抗辐射芯片是目前抗辐射设计的一个重要思路。论文结合双互锁单元技术(DICE)、空间冗余技术(TMR)、时间滤波技术(TS)和RC滤波技术4种加固技术,完成抗辐射D触发器单元设计。最后通过理论分析和模拟仿真验证其抗辐射性能。  相似文献   
76.
文章介绍了基于片上网络对系统芯片进行测试的原理和实例,这是一种新的设计方法。首先讨论了未来系统芯片存在的各方面测试挑战,并提出了基于片上网络结构的解决方案。其次,在OSI网络堆栈参考模型的基础上.提出了面向测试的片上网络协议堆栈以及对应的测试服务。最后,介绍了基于片上网络的模块化测试方法。  相似文献   
77.
BCD码和二进制码转换的硬件实现   总被引:1,自引:1,他引:0  
本文经过严密的数学推导,提出了两种硬件实现的BCD码和二进制码的相互转换算法.两种实现都只需移位操作和加法运算,并且能以统一的电路完成正反转换.适合对面积开销和实时性要求高的应用领域.  相似文献   
78.
樊晓桠 《现代电子技术》2004,27(21):i003-i003
目前,中国IC人才确实是全面的缺乏,但是我们不能简单的从数量上去衡量,更重要的是要考虑质量,只有培养一批高水平的IC人才,中国的IC才有希望。西安经过近几年的努力,集成电路产业链各环节已基本形成互动发展的格局,对IC人才的需求也在不断增加,因此,通过建立国家IC人才培养基地来培养一批高质量的IC人才是非常可行的,但是,我们的人才培养应该结合当地实际有所侧重。我认为应该主要抓设计、测试及应用方面的人才,  相似文献   
79.
一种数字信号处理器的动态功耗管理方案   总被引:1,自引:0,他引:1  
动态功耗管理是一种系统级低功耗设计技术,降低功耗的思路是根据系统当前负载动态调整时钟频率或者关闭时钟。文章以数字信号处理器为模型,提出了一种系统属性可调节的动态功耗管理方案,它支持通过软硬件配合对功耗进行灵活的动态管理,其管理策略采用了适应性预测算法,并引入非确定性因子。实验结果表明,该方案可以大大降低数字信号处理器的功耗。  相似文献   
80.
单粒子翻转对应用在航天领域的电子设备的可靠性具有重大的影响,依靠加速器产生的重粒子进行单粒子翻转的模拟实验,是一种有效的验证方法,本文通过在兰州近代物理研究所加速器上进行的风云一号卫星星载固态记录路单粒子反转实验,介绍了利用加速器进行验证电子设备系统级抗单粒子翻转技术的实验方法。  相似文献   
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