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61.
FLOTOX结构的EEPROM可靠性研究 总被引:1,自引:1,他引:0
分析了影响FLOTOX EEPROM可靠性的主要因素,包括可编程窗口的退化,电荷保持特性的退化以及与时间有关的氧化层击穿等.FLOTOX的可靠性与隧穿氧化层的质量密切相关.隧穿氧化层中产生的缺陷(陷阱电荷)是引起FLOTOX EEPROM性能退化的主要原因.实验证实氧化层中的陷阱电荷对FLOTOX EEPROM性能的退化起主要作用. 相似文献
62.
63.
64.
65.
CMOS数字电路抗热载流子研究 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍了热载流子效应与电路拓扑结构及器件参数之间的关系,并在此基础上提出了基本逻辑门的一些搞热载流子加固方法。通过可靠性模拟软件验证这些方法,为CMOS数字电路提高抗热载流子能力提供了参考。 相似文献
66.
一种新的辐射试验技术--低能X射线辐照 总被引:1,自引:1,他引:0
首先分析了辐照条件下MOSFET氧化层及Si/SiO2界面陷阱电荷和界面态电荷产生的机理,随后介绍了一种低能X射线辐射系统,最后讨论了X射线辐照后nMOSFET阈值电压的变化。结果表明采用X射线辐照对nMOSFET的阈值电压的影响与^60Co辐照影响的规律一致。 相似文献
67.
68.
69.
分析了咸阳市12个雨量站28a的系列降雨资料和区内宝鸡峡?泾惠渠?羊毛湾三大灌区28a引灌量资料,利用数理统计和典型井法对全市120眼监测井的水位系列资料进行了相关分析,初步明确了各地貌单元地下水位动态变化规律和成因类型,并提出了地下水开发利用中存在的主要问题和应采取的合理措施?研究结论可为咸阳市地下水资源合理开发和利用提供参考依据? 相似文献
70.
从骨料、矿物掺合料、纤维等组成材料以及制备方式等对活性粉末混凝土(RPC)性能的影响进行了分析研究。针对RPC目前存在的主要问题,提出了制备性价比优良的RPC原材料选择方面的建议和今后的主要研究及应用方向;研究认为,合理选择价格低廉的原材料甚至固体废弃物、简化制备方式可以制备出性能优良的RPC,提高RPC的性价比有利于促进其推广应用。 相似文献