单层膜孤立垂直磁化环形头读出过程的详细分析

本文认为孤立垂直磁化介质中存在退磁场，并建立了近似的数学模型．推导了读出波形电压表达式。分析了头盘结构参数对读出过程的影响。     

单层膜孤立垂直磁化环形头读出过程的详细分析

本文认为孤立垂直磁化介质中存在退磁场，并建立了近似的教学模型，推导了读出波形电压表达式。分析了头盘结构参数对读出过程的影响。     

磁盘机信号模拟系统的研究

文中阐述了磁盘机的特征信号模拟系统在磁盘的开发中的作用，研究了用一种任意波形产生系统来模拟并产生磁盘机的各种特征信号（如磁头的读写信号、伺服头的读出波形等）的原理与方法。     

磁头定位系统动态综合测试仪

介绍了温盘定位系统特性参数的新型在线综合测试仪采用磁盘机电系统动力参数在线识别理论与技术的研究成果，由多路程控超高速数据采集器、任意波形激励源、多制式寻道接口控制卡及个人计算机构成硬件系统，并采用参数测量方库、虚拟面板、高速图形环境等软件技术，实现了磁头定位系统近２０种多数和各种特征波形的在线测量。     

用于微器件制作的灰度掩模技术

讨论了灰度掩模技术在凸及凹形微透镜,折衍射复合微透镜和微尖形阵列等器件制作方面的应用,给出了与几种典型的凸及册形微透镜,折省射复合微透镜和微尖形结构对应的灰度掩模板的设计实例及其应用,为灰度掩模技术制作微透镜器件及微尖形阵列奠定基础。     

非梯度折射率型面阵平面微透镜

采用常规的光刻热熔法及灰度掩模技术,结合离子束蚀刻与溅射制作面阵非梯度折射率型平面折射和平面衍射微透镜,定性分析了不同的工艺条件下所得到的平面端面微光学折种和形貌特征。给出了在石英衬底表面通过光刻热熔工艺和氩离子束蚀刻所得到的两种球面及圆弧轮廓特征的面阵册形掩模的表面探针测试曲线,对平面微透镜阵列与IRCCD成像芯片和半导体激光器阵列的集成结构作了初步分析。     

用多路复用器扩展MCU串口

实时性强、可靠性高的串行通信解决方案对现代大型通信、控制系统具有重要意义.本文针对目前广泛使用的微控制器提出了一种能大幅提升系统串口通信实时性、可靠性串口扩展方案.     

用多路复用器扩展MCU串口

实时性强、可靠性高的串行通信解决方案对现代大型通信、控制系统具有重要意义。本文针对目前广泛使用的微控制器提出了一种能大幅提升系统串口通信实时性、可靠性串口扩展方案。     

一种直接测量光盘道间距的方法

介绍了一种能够直接 ,精确测量光盘道间距 ( Track Pitch)的实用方法。整个测试系统的框图 ,测试结果以及结果分析也一并给出。     

磁介质耐磨性高速测试系统

本系统根据磁介质疲劳磨损的原理，采用新颖的头盘接触介面，通过往复式机械谐振的方法，加速耐磨性测试过程。