数模混合电路测试与故障诊断方法研究

随着数模混合电路的广泛应用以及对可靠性要求的日益提高,测试与故障诊断成为其设计和维护的两个重要方面;由于数字电路和模拟电路测试与故障诊断的理论基础不同、电路响应的特征不同,因此如何建立模拟电路与数字电路故障诊断的统一模型,如何进行统一测试是混合电路故障诊断的核心问题之一;以解决上述问题为目的,对现有的方法进行了研究和总结,结合最新的研究成果,对混合电路故障诊断的发展趋势进行了展望.     

一种基于多重模糊有向图的系统划分方法

在系统级测试性设计中,为了实现模块间合理划分,采用多重模糊有向图表示系统模块间的故障传播关系,并在此基础上实现了系统划分。该划分方法不仅充分考虑了系统可测性设计要求,而且将同一模块上的固有故障传播和传递得到的故障分开分析,建立更加接近实际的故障传播影响度矩阵,与其他方法相比,该方法更加贴近模块间故障影响的真实情况,能够实现更精确的系统划分。     

一种基于信息流模型的故障隔离方法

为了实现快速地故障隔离,提出了一种基于信息流模型和测试划分的故障隔离方法.首先计算出非多余测试,在信息流模型中,具有相同激励的测试可以同时被执行,并按此对测试进行分组.在故障隔离过程中,按各组能检测出的故障出现概率的大小来决定测试顺序.实验表明,该方法最大程度地减小了测试时间,同时兼顾考虑了故障出现的概率和最少测试硬件增加.     

用Struts创建安全的Web应用

首先,本文主要讲述了框架有众多优势且在软件开发中逐渐流行。其次,介绍了Struts框架的原理和当今Web应用的安全性问题。最后,详细阐述了如何通过Struts自身的一些机制来实现Web应用的安全性,主要通过输入验证、访问控制、异常处理和实现RequestProcessor类的相关方法等四种方式来实现。     

BIT技术发展趋势分析

BIT(Built-in Test)技术是改善系统或设备的测试性和诊断能力的重要途径。近20年来,从理论到应用取得了显著进展,从大型军用装备、航空航天系统到民用大型设备,应用范围不断扩大。简要介绍了BIT技术的提出,通过对BIT与ATE的日渐融合、BIT应用于复杂武器系统及BIT走向智能化等三个方面地研究,分析了BIT理论技术的发展趋势,对相关领域BIT的深入研究与应用具有一定的价值。     

基于FPGA的FIR升余弦滚降滤波器设计与实现

为了降低FIR滤波器对FPGA资源的消耗,同时能够直接验证其滤波性能。文中采用乘法器和加法器共享以及MEALY型状态机的实现方法,以及卷积、插零等算法,来实现FIR升余弦滚降滤波设计,同时给出了在Quartus II环境下的时序仿真结果。实践表明,此方法可以节省大量的FPGA资源,仅仅需要100多个LE逻辑单元,就可以有效解决FIR数字滤波器算法在FPGA设计中资源紧张的问题。     

基于边界扫描技术的SOC数字电路可测性设计

随着SOC系统的快速发展,如何对其进行有效的测试与诊断是当前研究的热点问题。从SOC数字电路可测试性设计的角度出发,基于边界扫描技术,设计了具有边界扫描结构的IP核,并对相应的测试方法进行了研究。通过仿真及时序分析,验证了该设计方法的可行性,为SOC系统的测试提供了新的思路。