利用开路电压测量太阳电池外量子效率

首先利用太阳电池光照下的J-V特性,推导短路电流密度Jsc、开路电压Voc与光照面积和总面积的比值AΦ/AT之间的关系,分析利用短路电流密度测量外量子效率EQE(λ)SC的误差来源。并利用J-V特性将开路电压Voc表示的外量子效率EQE(λ)OC与常规利用短路电流密度Jsc表示的外量子效率EQE(λ)SC利用fEQE因子相关联。最后,测量不同面积晶体硅太阳电池的EQE(λ)OC、EQE(λ)SC并与PC1D模拟的EQE(λ)SCPC1D曲线进行对比,得到相应结论。该测试方法对提高太阳电池量子效率测试的准确性具有一定指导意义。     

利用外量子效率研究太阳电池陷阱特性

利用SRH(Shockley-Read-Hall)复合理论,建立一种新的测量太阳电池材料中陷阱特性的模型。该模型描述了晶体硅太阳电池基区中的电子陷阱能级相对位置(E_t)、陷阱浓度(N_t)、陷阱对空穴与电子的俘获截面的比值(σ_p/σ_n)与晶体硅太阳电池的开路电压、外量子效率之间的关系。通过测量在有偏置光源和无偏置光源情况下,单晶硅和多晶硅太阳电池在500~1050 nm波长范围内单色光照射时的开路电压和外量子效率,计算出陷阱能级上电子浓度的变化量,从而获得电池基体材料中的陷阱特性。该方法可在室温下利用太阳电池量子效率测试系统进行测试,降低测量成本与测试复杂性,并且可扩展量子效率测试系统的应用。     

利用太阳电池Ⅰ-Ⅴ特性测量其基区少数载流子寿命

提出了一种新的测量成品太阳电池基区少子寿命的方法,这种方法在电池制备完成后进行测量.此方法还可对印刷电极后烧结这步工艺流程进行少子寿命的监控,以提供改进电极制作工艺信息.