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针对双极性晶体管在加速贮存过程中的性能退化情况,建立其贮存寿命的外推模型。在该模型中,用维纳过程来模拟每个特征退化量的一元退化过程,用copula函数描述特征退化量之间的相关性。模型中的维纳过程以及copula函数的参数被认为与温度相关,它们的关系可以用转换方程来表示。用极大似然估计得到维纳过程的参数,引入kendall’s tau估计出copula函数的参数,对各应力水平下的参数的估计值做回归分析得出各参数对应的转换方程。基于双极性晶体管贮存试验数据,利用给出的估计方法得到其贮存寿命。 相似文献
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提出了用理想因子n作为表征,对双极晶体管的贮存寿命进行评估的新方法。以某型双极晶体管为研究对象,进行了3组不同温、湿度恒定应力的加速退化试验,分析了随试验时间的增加双极晶体管样品的性能参数退化的原因。通过设定失效判据,利用晶体管样品在小电流情况下PN结的理想因子的退化趋势外推出双极晶体管的贮存寿命,并与通过反向漏电流的退化趋势预测得到的贮存寿命结果进行了对比。结果证明,晶体管PN结的理想因子退化也可以作为晶体管贮存寿命的一种表征,从而对晶体管的贮存可靠性进行评估。 相似文献