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61.
三相电压型低谐波PWM整流器主电路参数间的关系   总被引:2,自引:0,他引:2  
于相旭  熊宇 《电气传动》2003,33(5):19-21,24
三相电压型低谐波PWM整流器主电路的多个参数之间的关系较为复杂,在仿真和实验中,若给出的参数不合理,则变换器不能正常工作,从而给仿真和实验带来一定困难。文章在考虑了输入电阻的情况下,给出了功率因数角为任意值时,主电路各参数和控制参数间的稳态关系及一些参数的约束关系。上述关系对于分析和设计被研究电路具有很好的指导意义,文中的公式通过了仿真验证。  相似文献   
62.
介绍了YAKS710-46300kW 6kV高压增安型三相异步电动机的研制过程、性能指标及防爆安全性等,对该电动机的技术经济性进行了分析,并提出了非防爆型避雷器,电容器在防爆危险区域内应用所采取的措施。  相似文献   
63.
自主飞艇浮力调节系统的建模及控制   总被引:6,自引:0,他引:6  
方存光  王伟 《控制与决策》2004,19(6):631-636
针对特定结构的平流层信息平台——自主飞艇,建立了多气囊浮力调节动力学方程.将气囊浮力力矩平衡关系式引入方程组,使多输入双输出耦合系统简化为多输入单输出系统.控制系统分为两级:一级控制系统中,根据非零隶属度存立原则确定模糊控制量的输出,通过调节量化因子和比例因子,弥补了控制过程中专家经验的不足,满足了系统对不同控制阶段的性能要求;二级控制系统采用简单的模糊控制.数字仿真验证了该控制方法的可行性.  相似文献   
64.
本文叙述了计算机系统的电磁兼容检测技术,并从软、硬件两方面提出了抗干扰措施。  相似文献   
65.
管理层收购起源于资本市场相对成熟的英美国家,其理论基础是西方经济学家提出的效率提高论,代表理论有代理成本说、防御剥夺说、信息不对称性假说。文章分析了管理层收购对我国企业的正负影响,由此提出今后我国管理层收购的几点思路。  相似文献   
66.
用三氯化铁-2,2'-联吡啶-1-嗅乙基苯催化聚合苯乙烯,研究了聚合反应条件对聚合的影响,三氯化铁/2,2'-联吡啶/1-溴乙基苯摩尔比对聚合的影响,用凝胶渗透色谱研究了分子量和分子量分布。  相似文献   
67.
对线性规划问题,一般用单纯形法求解。本文探讨了用矩阵及Gauss消元法来处理单纯形法的思想,使学生易于理解、掌握、应用线性规划问题。  相似文献   
68.
The synthesis of trivalent terbium doped ZnGa2O4 nanosized new phosphors by the Pechini method was reported. Well-crystallized ZnGa2O4:Tb3+ phosphors were obtained at low-temperature about 550 °C. The phosphors formed porous agglomerates which consist of spherical nanocrystallites with a uniform size at about 30 nm. The photoluminescence of the phosphors included both the luminescence of ZnGa2O4 host and characteristic emission of Tb3+, and the excitation spectra showed an energy transfer from the host lattice to the activator. The Tb3+ emission from the phosphors prepared by the Pechini process was more intensive than that of phosphors by solid-state reaction process.  相似文献   
69.
This paper introduces a measuring method of early lateral energy fraction in the scale model experiments. According to the interference principle of half wave length making the high frequency figure-8 directional microphone. With the signal-processing technique, a receiving and analyzing system, for the measurements of lateral energy fraction in the scale model is realized.  相似文献   
70.
Thin strain-relaxed Si0.8Ge0.2 films (57.6 nm) on the 30 keV Ar ion implantation Si substrates for different dose (1 × 1014, 5 × 1014, 3 × 1015 cm-2) were grown by ultra high vacuum chemical vapor deposition (UHVCVD) system.Rutherford backscattering/ion channeling (RBS/C), high resolution X-ray diffraction (HRXRD), Raman spectra as well as atomic force microscopy (AFM) were used to characterize these SiGe films. Investigations by RBS/C as well as HRXRD demonstrate that these thin Sio.8Geo.2 films could indeed epitaxially grow on the Ar ion implantation Si substrates. Under low dose ( 1 × 1014 cm-2) and medium dose (5 × 1014 cm-2) implantation conditions, the relaxation extents of SiGe films are 60.6% and 63.6%, respectively. However, high dose implantation (3 × 1015 cm-2) prompt the strain in epitaxial SiGe film to be close to full relaxation status (relaxation extent of 96.6% ). On the other hand, determinations of RBS/C also indicate the crystalline quality of SiGe film grown on high dose implantation Si substrate is nearly identical to that grown on low dose (1 × 1014 cm-2) implantation Si substrate.  相似文献   
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