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111.
本文报道了CaAs∶Er、InP∶Yb发光样品的二次离子质谱、X-射线双晶衍射测量结果及其与Er离子的表面成份的关系.分析讨论了退火损伤对GaAs∶Er和InP∶Yb发光的影响以及Er~(3+)复合体发光中心模型. 相似文献
112.
文章详细分析了静电产生的机理,指出积聚静电电荷的多少与材料的电阻率和介电常数有关。讨论了静电火灾发生的条件,指出静电火灾的发生具有隐蔽性、复杂性和突发性。但只要对其规律进行深入地研究,可以找到有效地防止静电火灾发生的办法。 相似文献
113.
114.
生物超微弱发光的光子计数成象方法 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍了我们研制和设计的用于测量生物超微弱发光的光子计数成象系统,包括光子成象头,高帧频CCD摄象机,图象采集系统和计算机,可以定量地探测出生物的发光强度分布 ,还能够显示出其发光的图象,确定发光的形状和位置,本系统的信噪比为10:1,最小探测功率达10^-16W,灵敏度高,动态范围大。 相似文献
115.
CCD应用中的高速图象数据采集技术 总被引:6,自引:1,他引:5
介绍了一种可用于精密光学测量的高速线阵CCD图象数据采集系统,给出了系统组成、各单元设计考虑和主要技术指标。 相似文献
116.
一个表示和运用非功能性需求的框架 总被引:1,自引:0,他引:1
本文分析了一个软件开发进程中表示和运用非功能性需求的综合框架,该框架的目的是开发一套技术以调整软件开发进程中的设计决策,从而强调了依据非功能需求,探索合理化的软件开发进程。 相似文献
117.
118.
国内外电雷管电引火元件现状及改进思路 总被引:1,自引:1,他引:0
文章分析了目前国内外电引火元件的现状,列举了国外著名火炸药公司典型的几种电引火元件结构及电火参数,提出了改进我国电引火元件的技术构思。 相似文献
119.
120.
A greedy algorithm to determine the number of transporters in a cyclic electroplating process 总被引:3,自引:0,他引:3
This paper presents a local optimization algorithm for minimizing the number of transporters required for material handling in a cyclic processing line. Within a cycle, a given set of transportation operations must be performed. Each operation consists of picking up a work-in-process job at a stage and delivering it to the next stage. The length of time that a job can remain at a particular stage is restricted by a time window. The transporters that perform the operations move on a shared track, and traffic collisions must be avoided during their movements. To avoid traffic collisions, the operations are partitioned into groups, where each group is served by a single transporter. A local optimal solution is obtained when the group sizes are maximized. We show that the duals of the linear programming subproblems formulated in the process of maximizing the group sizes are specially structured shortest-path problems. This leads to an effective search method for the maximization problem. Conditions when die proposed algorithm achieves die global optimal solution are discussed. The algorithm's performance is evaluated on both randomly generated test problems and benchmark problems. 相似文献