同步数字体系中155Mbit/s净荷的误码测试

本文基于光纤传输同步数字体系(S D H)系统的开发背景,较为详细地总结了155Mbit/s速率下的净荷误码测试机理.最后给出了净荷的误码测试方法以及误码测试系统的信号流程.     

X80钢级1422mm大口径管道断裂控制技术

在中俄东线天然气管道工程中采用高钢级(X80钢级)、大口径(外径为1 422 mm)的管道进行高压输送(压力为12MPa)可以有效增加天然气输送量,满足我国能源战略的需要。然而随着钢级、输送压力、管径及设计系数的不断提高,管道的延性断裂成为断裂的主要方式,止裂控制便成为研究的重点。为此,对止裂韧性计算的主要方法 Battelle双曲线(BTC)方法以及断裂阻力曲线和减压波曲线进行了深入研究,明确了BTC方法的原理及其适用范围,同时分析了BTC方法应用于高强度、高韧性管线钢时所存在的问题,给出了目前国际上针对BTC计算结果常用的修正方法。回顾了俄罗斯Bovanenkovo-Ukhta外径为1 422 mm X80管道断裂的控制方案,针对中俄东线管道的设计参数,对BTC计算结果进行了修正,进而制订出符合中俄东线天然气管道安全要求的止裂韧性值(245 J)。     

长庆油田一体化水井带压装备研究与开发

分体式带压作业机存在搬家车次较多、作业过程中人员相互配合不便、受井场大小限制以及部分注水井无法进行作业等问题。为此,结合长庆油区特点研究开发了新型一体化水井带压作业机。该带压作业机将行走系统、提升系统与液控系统的动力源合三为一,具有节约能源、搬迁快捷、安装方便、机动灵活等特点;修井车滚筒刹车系统采用液压盘式刹车,使设备的提升、制动系统安全性能大大提高。一体化水井带压装备实现了分散设备系统的整合、集成和一机多能,在21 MPa范围内注水井维护作业不需要放喷泄压,并克服了现有装备的缺点和局限性,提高了施工作业效率,具有较高的推广价值。     

套管井自然伽马能谱测井资料的应用分析

自然伽马能谱测井是一种新的测井方法。该文主要针对胜利油田的多个油区的套管井自然伽马能谱测井资料的应用实例进行了分析，指出它在开发过程中对研究管外窜槽、注水层的吸水量、判断水淹层和划分水淹级别、划分储集层和判断储集层性质、划分油层中的泥岩夹层、确定泥质含量及粘土类型等方面的重要作用。在综合其它测井方法后，能对研究储层变化、寻找剩余油分布等提供重要的手段。     

孔喉结构对CO2驱储层伤害程度的影响

在CO₂驱提高采收率的过程中,CO₂与原油、基质矿物的相互作用会对储层孔喉结构造成一定的伤害。为了揭示孔喉结构对CO₂驱储层伤害程度的影响,利用高压压汞、扫描电镜结合核磁共振技术,通过室内物理模拟实验确定岩心样品的孔喉堵塞程度,评价了不同孔喉结构的岩心样品在CO₂驱过程中的伤害程度,明确了CO₂驱储层伤害机理。实验结果表明：CO₂驱过程中产生的沥青质沉积及酸化作用对储层孔隙度的影响很小,实验岩心样品的孔隙度降幅为1%左右,而渗透率受到的伤害程度较高,Ⅲ类孔隙结构岩心的渗透率降幅达20.55%,且渗透率越低、孔喉结构越差,渗透率受到伤害的程度越高;孔喉堵塞程度与孔喉结构参数成正相关关系,孔喉结构越差,中值半径越小,越容易发生孔喉堵塞;Ⅰ类孔隙结构岩心的孔喉堵塞程度较低,Ⅲ类孔隙结构岩心的孔喉堵塞程度明显增高,最高可达到34.32%。该研究结果可为CO₂驱现场高效应用提供依据。     

油井腐蚀监测技术与防腐蚀

中原油田油井腐蚀严重,据估算,每年因腐蚀报废的管、杆、泵等直接经济损失就达4000多万元;因腐蚀导致的油井停产、作业等造成的损失,更是难以估计。为解决油井腐蚀难题,对中原油田采油一厂油井腐蚀现状进行了分析,对油井腐蚀监测技术和监测结论进行了介绍,对造成油井腐蚀的因素进行了详细分析,并提出了一系列油井防腐蚀对策。     

硼，氮共掺碳纳米管的第一性原理研究

小管径单壁碳纳米管因为曲率效应和局部效应的影响,有着不同的电学性能。传统的密度泛函计算并不能完全处理这些影响因素,但是杂化泛函计算却可以。我们通过HSE杂化泛函计算研究了（2,3）碳纳米管共掺杂不同浓度的氮,硼原子,发现了能隙和一些其他性质均随着掺杂成分的改变而发生振荡变化。我们的研究阐明了对小管径纳米管性质的认识。这对设计新型纳米电子设备有潜在作用。     

Regulating Water Adhesion on Superhydrophobic TiO2 Nanotube Arrays

Bioinspired surfaces with special wettability have attracted a significant attention in recent years because of their potential applications for no loss liquid transfer, anti‐icing, and self‐cleaning. Herein, the realization of two extreme superhydrophobic states on 1H, 1H, 2H, 2H–perfluorooctyltriethoxysilane‐modified TiO₂ nanotube arrays (NTAs) is described by changing the structural characteristics of nanotubes while keeping the surface chemical composition constant. The water adhesive force is regulated in a wide range from ≈4.4 to ≈89.6 μN by the nanotubular diameter, length, density, and surface roughness. The cooperation effect between the negative pressures induced by the volume change of sealed air‐pockets and the van der Waals' attraction at solid–liquid interface contributes to the water adhesion. The superhydrophobic TiO₂ NTAs with a high adhesive force is used as a “mechanical hand” to transfer water microdroplets without any loss, and the one with extremely low adhesive force is utilized as a self‐cleaning and anti‐icing surface.     

SATWE程序中不同楼板模型对比和设计建议

对一规则平面高层结构采用SATWE程序中不同楼板假定模型进行了结构分析。结果表明,采用刚性楼板假定时,现浇楼板对梁刚度的增大不宜估计过高。楼板平面有限元分析表明,在楼板配筋时,框架梁处板顶负筋宜适当加大,普通楼面梁处板顶负筋宜适当减小。     

Investigation of charge loss characteristics of HfO2 annealed in N2 or 02 ambient

The retention characteristics of electrons and holes in hafnium oxide with post-deposition annealing in a N2 or 02 ambient were investigated by Kelvin probe force microscopy. The KFM results show that compared with the N2 PDA process, the O2 PDA process can lead to a significant retention improvement. Vertical charge leakage and lateral charge spreading both played an important role in the charge loss mechanisms. The retention improvement is attributed to the deeper trap energy. For electrons, the trap energy of the HOS structure annealed in a N2 or 02 ambient were determined to be about 0.44 and 0.49 eV, respectively. For holes, these are about 0.34 and 0.36 eV, respectively. Finally, the electrical characteristics of the memory devices are demonstrated from the experiment, which agreed with our characterization results. The qualitative and quantitative determination of the charge retention properties, the possible charge decay mechanism and trap energy reported in this work can be very useful for the characterization of hafnium charge storage devices.