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51.
网络安全事件的关联分析方法的比较研究 总被引:2,自引:0,他引:2
随着当前攻击手段和技术的日益复杂化,一次入侵事件往往需要多个步骤才能完成,这些步骤都是彼此相关的。但是传统的入侵检测集中于检测底层的入侵或异常,所检测到的结果也仅仅是一次完整入侵的一部分,所以不能将不同的报警结合起来以发现入侵的逻辑步骤或者入侵背后的攻击策略。关联分析技术将不同分析器上产生的报警进行融合与关联分析,极大地减少了报警的数量,降低了入侵检测的误报率,并且适当的减少了入侵检测的漏报率。文中在对网络安全事件关联分析方法的系统结构进行分析后,着重介绍了当前比较流行的几种网络安全事件关联分析方法,最后对各种方法进行了比较研究。 相似文献
52.
53.
In this paper, we describe a method for increasing the external efficiency of polymer light‐emitting diodes (LEDs) by coupling out waveguided light with Bragg gratings. We numerically model the waveguide modes in a typical LED structure and demonstrate how optimizing layer thicknesses and reducing waveguide absorption can enhance the grating outcoupling. The gratings were created by a soft‐lithography technique that minimizes changes to the conventional LED structure. Using one‐dimensional and two‐dimensional gratings, we were able to increase the forward‐directed emission by 47 % and 70 %, respectively, and the external quantum efficiency by 15 % and 25 %. 相似文献
54.
55.
空间数据立方体的物化视图选择方法研究 总被引:1,自引:0,他引:1
针对决策支持系统(DSS)中集成空间分析能力的应用趋势,研究基于空间数据仓库的一种决策分析工具——空间在线分析处理(Spatial OLAP),拟解决影响空间OLAP在线响应的瓶颈难点——空间数据立方体的物化问题。首先系统地提出空间OLAP的模型,然后对现有空间度量物化视图选择方法进行改进,提出了双向空间Greedy算法。实验证明.该算法在降低选择时间和求解质量两方面具有更好的表现。 相似文献
56.
Latchup-free ESD protection design with complementary substrate-triggered SCR devices 总被引:2,自引:0,他引:2
Ming-Dou Ker Kuo-Chun Hsu 《Solid-State Circuits, IEEE Journal of》2003,38(8):1380-1392
The turn-on mechanism of silicon-controlled rectifier (SCR) devices is essentially a current triggering event. While a current is applied to the base or substrate of an SCR device, it can be quickly triggered on into its latching state. In this paper, latchup-free electrostatic discharge (ESD) protection circuits, which are combined with the substrate-triggered technique and an SCR device, are proposed. A complementary circuit style with the substrate-triggered SCR device is designed to discharge both the pad-to-V/sub SS/ and pad-to-V/sub DD/ ESD stresses. The novel complementary substrate-triggered SCR devices have the advantages of controllable switching voltage, adjustable holding voltage, faster turn-on speed, and compatible to general CMOS process without extra process modification such as the silicide-blocking mask and ESD implantation. The total holding voltage of the substrate-triggered SCR device can be linearly increased by adding the stacked diode string to avoid the transient-induced latchup issue in the ESD protection circuits. The on-chip ESD protection circuits designed with the proposed complementary substrate-triggered SCR devices and stacked diode string for the input/output pad and power pad have been successfully verified in a 0.25-/spl mu/m salicided CMOS process with the human body model (machine model) ESD level of /spl sim/7.25 kV (500 V) in a small layout area. 相似文献
57.
火成岩储层测井评价进展综述 总被引:19,自引:0,他引:19
十多年来,国内外火成岩储层测井评价已从交会图定性分析发展到用岩心分析资料建立裂缝性储层的测井解释模型,半定量、定量评价裂缝。成像测井和核磁测井的纵、横向分辨率高,经过地质刻度,可以较精细地识别岩性和裂缝,在解释火成岩方面有良好的效果。提高岩性识别准确率,识别复杂火成岩储层和孔隙流体,以及综合评价火成岩储层裂缝、饱和度等参数,仍然是火成岩储层测井评价所面临的难题。加强岩石物理基础实验,研究火成岩储层导电机理,系统研究火成岩储层测井评价理论,推广测井新技术在火成岩中的应用,建立统一的测井评价方法,将成为火成岩储层测井评价的发展趋势。 相似文献
58.
59.
Shuqin Fan Wenbao Han 《IEEE transactions on information theory / Professional Technical Group on Information Theory》2003,49(6):1553-1557
Using the estimates of the exponential sums over Galois rings, we discuss the random properties of the highest level sequences /spl alpha//sub e-1/ of primitive sequences generated by a primitive polynomial of degree n over Z(2/sup e/). First we obtain an estimate of 0, 1 distribution in one period of /spl alpha//sub e-1/. On the other hand, we give an estimate of the absolute value of the autocorrelation function |C/sub N/(h)| of /spl alpha//sub e-1/, which is less than 2/sup e-1/(2/sup e-1/-1)/spl radic/3(2/sup 2e/-1)2/sup n/2/+2/sup e-1/ for h/spl ne/0. Both results show that the larger n is, the more random /spl alpha//sub e-1/ will be. 相似文献
60.
The intent of a binomial effect size display (BESD) is to show "the [real-world] importance of [an] effect indexed by a correlation [r]" (R. Rosenthal, 1994, p. 242) by reexpressing this correlation as a success rate difference (SRD) (e.g., treatment group success rate - control group success rate). However, SRDs displayed in BESDs generally overestimate real-world SRDs implied by correlations of (a) dichotomous X and Y variables (φ coefficients), (b) dichotomous X and continuous Y variables (point-biserial coefficients [rphs]). and (c) continuous X and Y variables (rxys). Furthermore, overestimation biases are larger for rxys than for rphs. Differences in the sizes of biases linked to different correlations suggest that BESD SRDs reported for different correlations are not comparable. The stochastic difference index (N. Cliff, 1993: A. Vargha & H. D. Delaney, 2000) is recommended as an alternative to the BESD. (PsycINFO Database Record (c) 2010 APA, all rights reserved) 相似文献