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本文分析了注塑模型腔CAD/CAM实践中具体的曲线曲面造型处理方法,讨论了CAD/CAM实现中的各项关键技术,关成功地在微机系统上实现了注塑模型腔CAD/CAM的一体化。 相似文献
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提出了一种可在车间加工现场使用的2高精度烽控分度头,论述了它在结构实现上的关键技术,以及提高计算机控制系统可靠性的措施。 相似文献
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生物芯片图像微阵列偏转角度计算及样点分割算法 总被引:1,自引:0,他引:1
本文首先介绍了样点分割在生物芯片技术中所处的重要意义,并分析了生物芯片样点偏转角度误差来源以及构成原因,提出了全自动化的图像微阵列偏转角度计算及样点分割的统一解决方案.算法依据生物芯片样点阵列空间分布特点,并基于重构原理,提出了环形投影方法和功率谱估计相结合的功率切片方法,并以此建立起样点阵列的像素位置、偏转角以及功率值的三维分布关系,实现斑点阵列中偏转角度的精确计算.在获得偏转角度值的条件下,采用定向投影法和功率谱估计方法,计算样点阵列的行列间距;利用行、列间距,在一维灰度和序列中实现分段搜索,获取光斑中心粗定位;利用轮廓图像投影后出现双次峰的现象,估算样点直径;最后,依据重心法调整斑点中心,同时采用邻域搜索算法调整斑点直径,最终实现生物芯片扫描图像的精确定位和分割. 相似文献
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干涉测量是众多科学与工程领域广泛采用的精密计量手段。探索了一种方便可控的基于双光栅衍射的叠栅干涉相敏测角方法,可直接用于接近式光刻过程中掩模衬底的倾斜矫正及面内角调节,便于微纳米器件及微光电子系统集成等相关应用。本方法旨在分别利用双光栅多次衍射产生的对称与相似级次,实现(m,-m)级叠栅干涉与(m,0)级叠栅干涉,产生相位与二者相对倾斜角、面内角有关的场分布。分析推导了叠栅干涉测角的基本原理,然后介绍相应的(m,-m)级与(m,0)级干涉测角方案设计。具体而言,二者均类似地根据条纹偏转及频率变化分别以离轴与同轴的方式监测倾斜及面内偏转角度。设计相应的组合光栅标记进行实验验证。实验结果及分析表明,倾斜角与面内角的调节精度分别可达10-3 rad及10-4 rad。 相似文献