3种牛油的品质特性分析

为解决牛油火锅底料夏季软化形变及轻微化油问题,对酯交换法制备的高硬度牛油的基本理化指标、脂肪酸组成及含量、硬度、固体脂肪含量(SFC)进行了分析,并与老火锅牛油、混合牛油(由棕榈油和老火锅牛油以质量比1∶1混合而成)进行了对比。结果表明：3种牛油在基本理化指标上存在一定差异;3种牛油脂肪酸组成一致,各脂肪酸含量有明显差异;4℃时混合牛油的硬度最高,20～40℃时高硬度牛油的硬度最高,且随着温度的升高,高硬度牛油的硬度变化最小;温度超过10℃时,高硬度牛油的SFC最高,且随着温度的升高,其SFC下降速率最低。综上,高硬度牛油可以更好地保持牛油火锅底料在货架期的外观形态。     

制订内部使用规程 提高企业经济效益

本文介绍了该企业结合实际情况，制定出了适合企业使用的量具检定规程，既减少了工作量，又提高了效益，在探索我国检定规程改革方面迈出了第一步。这种做法、值得推广，我们也希望其它企业，都来探索这一问题，总结一下这方面的经验。     

科技时代下的公路建设探析

公路在我们的生活中占有重要的位置,现有的公路已经很难满足人们对其的使用,尤其是对于那些时间比较长得公路来讲,他们不仅很不实用而且还给人们的环境蒙上了一层阴暗,所以相关部门不断加大力度对地方公路整改,促进公路的建设,本文针对与地方公路建设进行了探析。     

对建筑工程造价中各个阶段的合理控制的思考

本文从经济角度来看,针对建设项目决策阶段控制、招标和签约阶段的工程造价控制、施工阶段的工程造价控制及其竣工结算的造价控制及后评价阶段对造价控制,并分析了工程实施过程中存在的主要问题,通过对国内建筑工程造价控制方面的经验研究,结合我国的实际情况和项目管理中成熟的造价控制经验,提出建筑工程的造价控制建议,即解决建筑工程造价控制问题的关键在于建筑工程的施工阶段的控制。如何做好这方面的工作是本文研究的重点。     

6.5%Si硅钢的制备技术和发展前景

6.5%Si硅钢具有优异的磁学性能和广泛的应用前景。本文综述了6.5%Si硅钢的物理、机械及磁学特性,讨论了传统轧制、温轧、薄带连铸、快速凝固、CVD、粉末轧制等不同制备工艺的关键技术及特点,概括了6.5%Si硅钢在高效节能电机、汽车马达及磁屏蔽等领域中的主要应用,介绍了硅钢的制备技术取得的研究进展,并指出了其广阔的发展前景。     

发展我国移动通信网刍议

移动通信是一种历史悠久的技术,但也是一种新的高技术。说它悠久,是指无线通信出现后人们就开始应用移动通信技术了,不过那时是点对点通信或至多是点对多点通信,在一个频道上实现,如步谈机、出租汽车调度系统等;说它是新的高技术,是指80年代在世界     

平尺支承点位置的探讨

千尺是检验不直度和不平度时经常采用的测量工具。在实际应用中,要求平尺的弯曲量处于最小的状态。为满足此要求,有的在平只检验后,将实际弯曲量为最小的支承点标出来。有的在检验机床工作台的不乎度时将垫铁放在 2/9L处(L是平尺的全长)。为了使用方便,我们认为可先决定平尺的支承点在两端,再根据其支承点的位置来制造平尺,使在两端支承后平尺因自重向下产生的挠曲变形和平尺的原始形状的向上弯曲量相抵消,从而得到较为理想的平直表面。我厂曾制造出两根1米平尺,用支承点在两端和在2/9L处的两种测量方法。实践证明,使用这两种支承方法后,…     

檢查精密絲杠螺距时的最佳測量点

一、最佳測量点的含义长絲杠在精車时,往往使用中心架以避免加工中的弯曲变形;在精密絲杠檢查中,也要設法避免由于弯曲而增加的测量誤差,尤其对于又細又长的高精度絲杠(如T4240坐标鏜床),其影响更为显著。一般說来,二級精度的絲杠(甚至有些一经的)没有足够的剛性,而且具有梯形螺紋的标准型面。但是計算和实踐都証明,在曲率半徑足够大时,絲杠軸綫的些微翹曲对工作精度并无影响,因为絲杠的拉力会产生一个力图使絲杠对准螺母中心的徑向分力。我厂試制的T4240坐标鏜床的絲杠为1級精度,长1.2米,螺距5毫米,外徑35毫米,螺紋半角15°。按規定标准,它的外徑跳动允差为60微米,或者說它的軸綫弯曲允差为30微米。精密絲杠的螺距誤差是絲杠精度的最重要一項,     

用参量方程式理论来探讨螺纹的中径当量

本文从螺纹螺旋面是阿基米德螺旋面为探讨的出发点，推导出螺旋面上任一点的空间笛卡尔坐标的参量方程式，表达了螺纹的螺距、牙型、半角、大径、小径、螺纹轴线、左旋螺纹和右旋螺纹的相应数学含义。根据左右螺旋面的不同数学表达式的相对位置，来确定理想螺纹的中径值，且证明中径值是唯一的。当存在螺距、半角误差而引起的“中径当量”，可由单一中径的理想方程式作参照系，推导出螺距、半角误差的中径当量。     

InGaAsP/InP外延薄膜折射率与厚度测量

本文报道一种应用波导耦合光栅测量InGaAsP/InP外延薄膜折射率与厚度的方法。该法测量精度高,具有非破坏性与工艺实时性优点。外延薄膜折射率与厚度测量精度分别可达到±2×10~(-3)与±1×10~(-2)μm,这完全满足DFB与DBR等一类半导体激光器以及有源导波光学器件的设计需要。