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31.
本文介绍了BESⅢ(北京正负电子对掩机第三代谱仪)飞行时间(TOF)读出电子学在线刻度电路.该电路被集成在读出电子学插件上,用VME总线接口在线控制高精度DAC和高速模拟开关,产生幅度(电荷)可程控的指数衰减脉冲,对电子学通道进行时间测量检测和电荷测量的非线性校准,有大于20倍的电荷动态范围和好于10 bit的精度,能有效实现电荷非线性的校准功能.经测试,刻度修正后TOF电子学电荷测量的积分非线性小于0.69%,远好于修正前2%的性能指标,满足设计要求,目前该刻度电路已成功应用于BESⅢ工程. 相似文献
32.
33.
针对锁模激光器微弱回波信号探测的需求,提出了一种基于高速相关采样和在线实时并行累加处理算法相结合的方法,对传统的模拟取样积分方法进行了改进,可实现无参考信号条件下的实时数字累加检测。设计并实现了一套基于该方法的锁模激光器微弱回波信号检测原型系统,使用12 bit@900 MSPS模拟-数字转换芯片(ADC) ADS5409对经光电转换之后的锁模激光回波信号进行波形采样,并利用现场可编程逻辑门阵列(FPGA)芯片Kintex-7实现对ADC的控制及在线数据处理。系统测试结果表明,对于重复频率为8 MHz、平均功率为0.04 nW的锁模激光回波信号,通过在FPGA内进行16 000次脉冲波形精确累加,可实现信号的有效检出,且从波形采集完毕到输出检测结果的延时小于100 ns,达到了高度的实时性。经900次重复实验,检测效率达到100%,且无虚警情况发生。 相似文献
34.
基于AGET芯片的MPGD探测器前端电子学设计 总被引:1,自引:0,他引:1
本文介绍了一种基于AGET芯片的微结构气体探测器前端电子学系统。该系统采用模块化结构,单个模块具有4片AGET芯片,可同时接收256路探测器信号;通过多个模块并行工作,可处理更大规模的探测器通道。该系统具有多通道、高集成度、低噪声和可扩展等优点,可适应微结构气体探测器等的读出需求。经电子学测试,该系统在不同动态范围,不同达峰时间的积分非线性均小于2%,等效噪声电荷小于1 700 e。 相似文献
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为了获得抗干扰、抗辐射能力强的远距离数据传输,在第三代北京谱仪BESⅢ工程的TOF前端电子学与TOF子触发系统之间采用了光纤传输方案。同时为了节省空间,在发送端对并行数据进行并串转换然后传送串行数据。然而接收端串并恢复的过程中会存在每次上电同步后转换延时不确定性的现象,从而导致了串并转换恢复数据/时钟的摇摆问题。在探讨现象本质的基础上,结合FIFO的同步功能,提出了可以广泛适用的系统同步法以及一种适用于目前数据传输方案的简便同步方法,成功地实现了多通道并串/串并转换数据的串行同步传输。 相似文献
36.
37.
介绍了基于频率-时间转换原理的精密时序控制系统,可以产生长达800μs的时间间隔,并且时间分辨为20ps,抖动小于25ps RMS.该系统采用了DDS技术和USB接口. 相似文献
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赵川 孙胜森 李澄 张晓杰 何康林 安琪 陈宏芳 代洪亮 封常青 衡月昆 黄亚齐 黄燕萍 郭建华 李卫东 李秀荣 刘芳 刘怀民 刘树彬 刘曙东 刘勇 马想 毛泽普 邵明 孙勇杰 孙志嘉 吴金杰 杨桂安 赵雷 朱兴旺 左嘉旭 《Canadian Metallurgical Quarterly》2011,35(1)
The time calibration for end cap TOF system of BESIII is studied in this paper. It has achieved about 110 ps time resolution for muons in dimu events. The pulse height correction using electronic scan curve and the predicted time calculated using Kalman f 相似文献
40.
The Dark Matter Particle Explorer (DAMPE) is being constructed as a scientific satellite to observe high en- ergy cosmic rays in space. As a crucial detector of DAMPE, the BGO calorimeter consists of 1848 PMT dynode signals which bring difficulties in front-end electronics on the space-limited and power-limited satellite platform. To overcome the challenge, a low-noise, low-power and high-integration ASIC chip, named VA32HDR14.2, is taken into account. In order to evaluate the radiation tolerance of the chip in space radiation environment, both single event effect (SEE) and total ionizing dose (TID) tests were performed. The SEE test result shows that the effective linear energy transfer (LET) threshold of single event latch-up (SEL) of the chip is around 23.0 MeV- cm2/mg, which is relatively sensitive, thus protection methods must be taken in the electronics design, The TID test result shows that the TID performance of the chip is higher than 25 Krad(Si), which satisfies the design specification. 相似文献