ZLI—1565液晶纯相位调制特性的实验研究

本文简介了国内外向列相液晶相位调制特性的研究概况，对ＺＬＩ－１５６５型平行，扭曲型向列相液晶的相位调制特性者了实验研究。结果表明平行式向列液晶相移量大，光强度化小，并利用这一特性，将相移技术引入到剪切电子散斑干涉术中，提高了检测精度；相移方法简单、可靠。用该系统进行应变场的测量实验，取得了满意的效果。