一种低功耗系统芯片的可测试性设计方案

低功耗技术,如多电源多电压和电源关断等的应用,给现代超大规模系统芯片可测试性设计带来诸多问题。为此,采用工业界认可的电子设计自动化工具和常用的测试方法,构建实现可测试性设计的高效平台。基于该平台,提出一种包括扫描链设计、嵌入式存储器内建自测试和边界扫描设计的可测性设计实现方案。实验结果表明,该方案能高效、方便和准确地完成低功耗系统芯片的可测性设计,并成功地在自动测试仪上完成各种测试,组合逻辑和时序逻辑的扫描链测试覆盏率为98.2%。     

一种基于FPGA的数字IC设计

EDA技术是一种高级、快速、有效的电子设计工具,充分利用了计算机自动设计、仿真和测试功能.利用EDA技术对数字集成电路(IC)进行描述、建模和设计,简化了IC电路设计任务.文章通过设计序列检测器,介绍了利用ALTERA公司的Quartus Ⅱ平台,通过硬件设计语言(VHDL),基于FPGA进行数字电路设计、描述、编译、仿真,定制IC等主要流程,表明了运用EDA技术设计数字电路具有灵活性、可靠性和可扩展性,在硬件设计领域中必将得到很好的应用.