热解炭微观结构的表征--热解炭各向异性的偏振光分析

详细介绍了偏振光产生的基本原理及其在表征热解炭光学各向异性强度上的应用。它能把消光角的测量直接反映出热解炭的光学各向异性程度。消光角的大小直接反映了微观织构的取向程度：消光角越大，织构取向越好，微观组织越光滑平整，而在偏振光下图像层次感越丰富，且由于粗糙层热解炭的柱状生长锥特征对光线的阻断作用而使得偏振光图像显得粗糙。     

热处理温度对PAN基炭纤维结构的影响

利用SEM观察了3种PAN基炭纤维（TX－63、T300、T700）热处理前和经不同温度热处理后的表面形貌，并测试了其石墨化度、Lc和d002值，以研究热处理温度对炭纤维表面和内部微观结构的影响。结果表明：TX－3、T300炭纤维表面本身有不规则沟槽、凸起和缺陷等，T700炭纤维表面比较圆滑，随着热处理温度升高，PAN基炭纤维的表面形貌发生明显的变化，尤其是2700℃处理后炭纤维表面的褶皱相对较浅而小；石墨化度与Lc随热处理温度升高而增大，d002值则呈减小趋势，说明热处理温度对炭纤维的表面和内部结构有显著影响。     

烧结金属材料的金相制样

详细论述了烧结金属材料金相样品的制备方法和金相样品制备过程中可能产生的总理２以及控制和消除它们的方法信此方法可确保获得一个平整的、能反映烧结金属材料起初显微组织和结构的金相样品。     

高频燃烧红外吸收法测定炭/炭复合材料中碳

采用高频感应炉燃烧红外吸收碳硫仪,建立了炭/炭复合材料中碳的测定方法。对测定条件如助熔剂、称样量、分析时间等进行了优化研究。其最佳测定条件为:样品称量为0.15 g左右;最大工作电流350 mA,载气流速为3 L/min,载气(氧气)纯度99.99%,陶瓷坩埚需经1 100℃灼烧2 h后,可使空白降至最小,预清洗时间10 s,预延时间10 s,碳元素最短分析时间为60 s,比较水平为1.0%。该方法快速、简便,具有良好的精密度和准确度,用于复合材料中碳的测定,RSD为0.10%～0.21%。     

不同氧化钨氢还原制取超细钨粉

选取相成分单一的氢钨青铜（ＨＴＢ,Ｈ０．３３ＷＯ３）、铵钨青铜（ＡＴＢ,（ＮＨ４）０．５ＷＯ３）、紫钨（ＴＶＯ,ＷＯ２．７２）、黄钨（ＴＹＯ,ＷＯ３）和相成分不单一的蓝钨（ＴＢＯ,含ＷＯ２．９和ＷＯ２．７２两相）作为原料,研究钨原料对制取超细钨粉的影响。结果表明：相成分单一的氧化钨通过氢还原能制取细而均匀的钨粉;紫钨ＷＯ２．７２制得的钨粉细而均匀,分散性好是适合做微晶硬质合金的原料。     

超细钨粉的粒度表征

为了对供给态和研磨态超细钨粉的颗粒粒度进行表征,将供给态粉和研磨态粉由激光衍射法、FSSS法和BET法测量出颗粒粒度。实验结果表明:利用激光衍射法和FSSS法所测量出来的供给态粉和研磨态粉的粒度结果是错误的,这是因为测量系统存在缺陷和测量原理不合适所致。可以使用吸附等温线来获得表面粗糙度的分数维维数D和微孔的表面积S_t,且用D和S_t来修正d_(BET)的计算公式。在本实验中,使用修正公式得到的4种粉末的平均粒度值与扫描电镜的观测值相一致。     

热解炭微观结构对C/C复合材料摩擦磨损性能的影响

研究了热解发光学特性分别为粗糙层结构和光滑层结构试样的摩擦磨损性能。粗糙层结构试样由于具有较高的导热系数,其传热和散热能力比光滑层结构试样的强。在300～800℃时,粗糙层结构试样的膨胀系数基本保持稳定,而光滑层结构试样的膨胀系数随温度升高递增,使刹车过程中前者摩擦因数稳定,后者摩擦性能差。利用场发射高分辨电子显微镜研究了粗糙层结构和光滑层结构试样的微观结构。结果表明;前者生长择优取向明显,生长表面光滑,在摩擦过程中形成片状的石墨结构磨屑,保持稳定的摩擦性能;后者则为低织构疏松层状结构,生长表面粗糙。在磨擦过程中形成颗粒状或大团状结构,导致摩擦性能不稳定。热解炭微观结构的差异是导致2种结构试样热性能、摩擦磨损性能差异的根本原因。     

对Mn_3O_4比表面特性的研究

对不同工艺条件下的Ｍｎ３Ｏ４粉末进行静态低温氮吸附测试。利用ＢＥＴ理论计算其比表面。结果表明，氮吸附法比表面较好地反映了Ｍｎ３Ｏ４的比表面特性。     

国家标准：《烧结金属材料—规范》（征求意见稿）

这份国家标准征求意见稿是以ISO5755:2 0 0 0《烧结金属材料———规范》制定的。如有意见 ,请直接和作者联系     

激光衍射法中光学模型对B4 C粉末粒度分布测量结果的影响

选了四种不同平均粒径的B4C粉末分别用激光衍射法仪中Fraunhofer（夫朗和费）衍射和Mie（米氏）散射光学模型测量其粒度分布和平均粒度，结果表明，对于粒径界于10－15μm之间的粉末，无需知道材料对光的折射率和吸收率，其应用Fraunhofer衍射理论测理的结果与应用Mie散射理论测得的结果近似，但分布线有一定的区别，对于＞15μm粉末，在两种模型下分布曲线与平均粒径皆接近；而对于＜10μm的粉末，必须采用Mie散射光学模型，并需预先知道材料的光学特性。