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通过构造双势垒模型以及蒙特卡洛方法的应用,成功地再现了材料的许多介电、铁电性能,这是目前国外研究电介质材料介电、铁电性能的一种有效的计算机模拟方法。将这种方法应用到具体的非晶相绝缘体中,以材料的实际结构来构造双势垒模型,得到的结果与实验相吻合。此外,该方法预期还能用以模拟界面、缺陷等等,并且极有可能发现某些目前通过试验还未被发现的现象,从而指导试验的方向。 相似文献
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矿物绝缘油中腐蚀性硫与铜绕组在一定条件下会反应生成硫化亚铜(Cu2S),目前该物质被认为是影响变压器/电抗器等大型电力设备绝缘性能的主要因素。通过实验研究发现:绝缘纸表面附有Cu2S后,会导致绝缘纸的介电常数变大,同时工频击穿电压降低;采用Pig-tail模型,通过有限元原理进一步仿真研究了绝缘纸层中渗入不同程度的Cu2S时周围的电场分布情况。结果表明:绕组包覆的绝缘纸层中附有Cu2S后会影响与之相邻的油-纸绝缘层的电位分布,油-纸绝缘层上分布的最大场强增长率与Cu2S在绝缘纸中的渗入程度呈指数递增关系,此外,通过量化分析还得出了绝缘纸层中"允许"渗入Cu2S的"极限百分比"。研究结果为今后准确评估Cu2S对电力设备安全运行的危害及相关寿命预测提供了参考依据。 相似文献
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报道用热刺激电流研究聚酰亚胺薄膜受电子束辐照前后试样中陷阱密度的变化,并对这些试样进行了介电性能的研究。通过不同辐照剂量下相应的热刺激电流表示了陷阱密度的变化与辐照剂量的关系。在75℃时热刺激电流(TSC)曲线出现一显著的电流峰,峰值位置与辐照剂量无明显关系。实验表明辐照使各个能级下的陷阱密度均匀变化,并与辐照剂量成指数关系。介质损耗因数随辐照剂量增加而升高。当辐照剂量为5×10~6Gy时,陷阱密度和介质损耗因数均出现反常变化。 相似文献
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