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基于数据库通用自动测试系统 总被引:1,自引:0,他引:1
基于数据库的通用自动测试系统能够应用于电子产品的设计、制造和使用维护各个阶段,并适用于各个电子产品,无论是已有的产品还是新开发电子产品。本文阐述了集成这种通用自动测试系统的必要性,用数据库控制通用自动测试系统的原理,系统的软硬件设计和应用展望 相似文献
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基因存储是电子细胞的重要组成部分,已有的基因存储无法兼顾系统的可靠性和硬件消耗。设计了一种新型的基因存储结构,细胞采用相关冗余方式存储系统的部分基因。通过基因更新过程,基于相邻细胞的基因信息恢复故障细胞损失的基因。细胞内存储基因数目与阵列和目标电路规模无关,可由设计者根据系统需求设置。理论分析和仿真实验表明,该基因存储不仅实现了阵列功能分化和自修复,而且可在保持系统可靠性的前提下,降低基因存储的硬件消耗,可用于大规模仿生自修复芯片的设计。 相似文献
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基于虚拟仪器的雷达装备ATS使用测试性验证系统设计 总被引:1,自引:0,他引:1
针对现有雷达自动测试系统(ATS)测试性验证困难的问题,设计了一种基于PXI总线的通用ATS使用测试性验证系统,并详细说明了系统的软/硬件设计及相应关键技术;该系统以PXI嵌入式主控计算机为核心,以NI LabWindows/CVI标准开发环境构成虚拟仪器测试系统,综合运用计算机测控技术,PSPICE层次化建模及其与CVI的混合编程技术,标准接口及总线技术等,有效地提高了系统的可信性、通用型和灵活性;验证示例表明,该系统自动化、智能化程度高、适应性强,通过相应适配器的开发可以完成基于仿真的半实物通用装备ATS使用测试性验证,对现有装备的测试性提高具有重要意义,可以促进测试性的不断增长. 相似文献
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VXI/PXI开关模块在自动测试系统中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
VXI/PXI开关模块在自动测试系统中的配置应首先分析ATS系统资源结构和用户测试需求,使效率/费用比最大.其次,采用模块化可扩展开关系统结构,预留扩展空间,使测试系统向上兼容.最后通过分析不确定来源,对开关系统和激励源引入的不确定度进行分析,并对开关系统在信号传输过程中引起的干扰采取抗干扰设计. 相似文献
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针对无失效数据条件下复杂电子设备的系统可靠性评估问题,提出了一种基于电路单元性能的仿真评估方法。首先,确定组成系统的电路功能单元模块,根据单元性能参数与系统输出性能的逻辑关系,建立系统性能可靠性仿真模型;然后,通过性能数据的统计分析估计各单元的性能分布参数,根据分布参数获得性能数据的随机抽样值,由抽样结果仿真得到系统的输出性能数据;最后,统计仿真结果获得系统输出性能参数的失效比例,进而实现系统的性能可靠性评估。通过一个实例验证了该方法的有效性和实用性。 相似文献
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