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951.
2~12GHz GaAs单片行波放大器 总被引:1,自引:1,他引:0
报道了一个全平面超宽带GaAs单片行波放大器的研究结果。该单片电路的核心部件是四个300μm栅宽的MESFET,整个电路拓扑结构简单,芯片面积为3.0mm×1.8mm。电路经优化设计后在2~12GHz范围内,小信号增益为5±1dB,输入输出电压驻波比≤1.75。上述频率范围内输出功率≥16dBm,噪声系数≤8dB。采用全离子注入、全平面工艺,均匀性、一致性良好。实验结果与设计预计值十分一致。 相似文献
952.
关于布尔函数的二次逼近 总被引:2,自引:0,他引:2
本文首先利用矩阵形式引入了二阶walsh谱的概念并讨论了其性质,其次引入了二次bent函数的概念,同时论述了二次bent函数的密码学意义。 相似文献
953.
954.
本文用不热形变栅状直丝化学气相沉积(CVD)法生长金刚石膜,在Si及WC-Co硬质合金衬底上金刚石膜晶面显露规律随衬底温度和甲烷浓度而异,经适当表面处理及选择合适的工艺条件,当生长初期衬底上就呈现出良好晶形的沉积膜,衬底与膜之间的粘结力能得到提高。Raman谱分析表明此膜仅具有特征金刚石1332cm ̄(-1)峰,通过SEM观察揭示出盒刚石膜可在表面、侧面及棱上生长,并与衬底有良好的联结。 相似文献
955.
956.
957.
958.
The author demonstrates a simple technique that extracts average doping concentration in the polysilicon and silicon near the oxide in a metal/polysilicon/oxide/silicon system. The technique is based on the maximum-minimum capacitance method on two large area structures-one MOSFET and one MOSC (MOS capacitor). The technique is simple and reliable since only three data points in the C-V data are required-two points in MOSC C-V and one point in MOSFET C-V. The technique avoids inaccuracy caused by interface traps at the polysilicon/oxide and the oxide/silicon interface. The technique can be implemented into fab routine electric-test procedures for simultaneously monitoring change of doping concentration in polysilicon and silicon during process development 相似文献
959.
Shye Lin Wu Chung Len Lee Tan Fu Lei Chen C.F. Chen L.J. Ho K.Z. Ling Y.C. 《Electron Device Letters, IEEE》1994,15(4):120-122
In this study, it is demonstrated that the incorporation of fluorine can enhance poly-Si/Si interfacial oxide break-up in the poly-Si emitter contacted p+-n shallow junction formation. The annealing temperature for breaking up the poly-Si/Si interfacial oxide has been found to be as low as 900°C. As a result, the junction depth of the BF2-implanted device is much larger than that of the boron-implanted device 相似文献
960.
采用稀土氧化物和无机化合物的复合物(不简称RI-复合物)作为搪瓷釉浆悬浮剂,使之全部或大部分代替粘土,进行了一系列试验,已获得成功,突破了长期来搪瓷工业离不开粘土的传统工艺,并实现了工业化生产。 相似文献