GaAs器件和MMIC的失效分析

从可靠性物理的角度,分析引起砷化镓（GaAs）器件和单片微波集成电路（MMIC）退化或失效的主要失效模式及其失效机理,明确了GaAsMMIC的可靠性问题主要表现为有源器件、无源器件和环境因素等引入了损伤退化,并针对几种常见的失效原因：过电烧毁、静电损伤、器件分层、设计和工艺缺陷等进行举例分析,为生产和使用过程中控制其主要的失效模式及失效机理提供参考和依据。     

化地不化人的城市化符合中国国情吗?——人口密集型的“老浦西”和土地资本密集型的“新浦东”的历史比较

基于对城市化真谛的理解,在论证城市化的二重性和城市集聚效应的内生性的基础上,针对中国城市化过程中存在的化地不化人的弊病,在对比"老浦西"和"新浦东"城市化机制及其绩效后发现,"新浦东"受制于现行户籍和土地制度,对人口、土地和资本等要素的配置以行政导向为主,以土地密集和资本密集为主要特征,对中国真实城市化率的提高贡献甚微,陷入城市自我现代化的困境,也违反国情和环保的要求,难以持续。对众多农村人口亟待城市化的中国而言,"新浦东"模式不具备普遍意义。市场导向的人口密集型的"老浦西"模式,更符合内生增长的要求,更能发挥城市吸收农村人口的集聚效应,也更符合可持续增长和环保原则,值得今日中国借鉴。     

偏压条件对光耦合器总剂量辐照效应的影响

通过对不同偏压条件对光耦合器总剂量辐照效应的影响进行研究,结果发现随着总剂量的增加,光耦合器电流转换率CTR会降低60％ ～ 80％,且输入低电流时光耦合器总剂量辐照损伤更严重,其原因可能是输入低电流时光耦合器内部发光二极管辐照过程中更容易产生非发光陷阱所致.     

全光混沌序列发生器设计

如何在光域产生混沌序列并将其作为光码分多址OCDMA(optical code division multiple access)系统的地址码,是近年来一个新的研究方向。利用马赫-增德尔干涉仪设计了一种完全在光域产生模拟双极性混沌序列的发生器。通过控制马赫-增德尔干涉仪两臂引起的相移来调制输入光电场的振幅和相位,使得输出光电场矢量等于输入光电场矢量与余弦项的乘积,多个干涉仪及光纤延迟线和相移器可以构成混沌序列发生器,并按logistic映射在光域产生双极性混沌序列。此混沌序列发生器可作为OCDMA系统的编解码器,提高保密性并增加系统可容纳的用户数。     

过盈配合深沟球轴承外圈最大切应力分析

以ANSYS有限元分析软件为基础,分别对轴承与轴承座过盈配合、滚动体与轴承外圈接触进行分析,并将结果合成。结合实际情况,研究了6003轴承在不同过盈配和载荷作用下,外滚道下面最大切应力大小及其所在深度的变化情况。结果表明:1.通过对比ANSYS分析结果和理论计算结果,验证了ANSYS分析过盈配合和接触的准确性;2.6003轴承在承受当量静载荷80%的工况下,过盈量在(0⁰.042)mm之间变化时,随过盈量的增大,外圈最大切应力先减小,后缓慢增大;最大切应力发生的深度变浅。     

光纤传感器中曲线拟合的应用及研究

从最小二乘法基本原理出发进行曲线拟合,结合实例介绍在无数学模型的情况下拟合光纤传感器系统特性函数,并用Matlab对拟合函数进行回归分析,修正拟合函数,使传感器特性拟合曲线达到理论要求。     

电子元器件的贮存可靠性及评价技术

综述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,分析了元器件贮存失效模式及原因,表明减少元器件自身缺陷、改善固有可靠性是提高其贮存可靠性的关键。并从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存可靠性评价技术进行了对比分析。     

栅氧化层TDDB可靠性评价试验及模型参数提取

采用恒定电压和恒定电流试验方法对20nm栅氧化层进行了TDDB可靠性评价试验，并完成了1／E模型参数提取，给出了恒定电流应力下描述氧化层TDDB退化的统计模型，较好地解释了试验结果。     

金铝键合寿命评价方法研究

由于金属间化合物的生成,会使金铝键合的接触电性能受到影响.从金属间化合物生成这一单一失效机理出发,以失效物理为理论基础,通过恒定高温加速和高温步进加速试验,针对不同温度下的金铝键合寿命做出评价,并给出键合寿命评价流程.     

扭摆式微硅隧道加速度传感器

本文介绍了扭摆式隧道加速度传感器的结构、工作原理、简化的力学模型,设计了版图、工艺流程及关键工艺,并制备出样品,最后给出测试电路和结果。