超短脉冲在远场的时空特性

将在时间和空间上为高斯型的超短脉冲分解成不同时间频率的高斯光束．详细地分析了其远场由于时空耦合引起的光谱频移、波前弯曲等复杂的时空特征。     

提高辽河原油重交通道路沥青的质量

辽河油田石化总厂为提高从辽河原油生产重交通道路沥青的质量，对所用的辽河原油中的低凝点环烷基原油经过分储、分输、分炼，对减压蒸馏塔进行改造，控制减压拔出率，对直馏沥青进行轻度氧化，使９０号重交通道路沥青中沥青质的含量大于１０％，蜡含量小于２％，质量达到了国际先进水平。     

电子表格EXCEL5.0在选煤线性规划问题中的应用

采用电子表格软件ＥＸＣＥＬ５．０可以方便地解决许多选煤生产中的线性规划问题。本文通过选煤过程线性规划实例介绍ＥＸＣＥＬ５．０在此领域的应用方法。     

波导短程透镜球差特性分析及其焦距精确测量方法的研究

本文研究短程透镜的焦点位于端面外的球差特性。对焦点位于波导外部（包括端面）的情况给出了一种精确测量焦距新方法，采用这种方法简单易行，测量精度取决于读数显微镜的读数精度（０．０１ｍｍ）。     

Electrophysiological properties and cholinergic responses of rat ventral oral pontine reticular neurons in vitro

This study analyses the relationship between the use of rotating instruments, the production of a smear layer and the presence of alterations to enamel microstructures. The rotating instruments used were carbide (8-12 blade) and diamond tipped (30-15 m) cutters. Cavities were made in extracted teeth. Subsequently, half the sample was analysed using the rugosimeter before and after the application of ortophosphoric acid at 35% for 15 and the other half suing a Scansion Electronic microscope (SEM). The results obtained showed on the one hand that carbide cutters leave a smoother surfacer than diamond tipped cutters, and on the other that the smear layer is eliminated better by carbide cutters compared to diamond tipped cutters. Moreover, there are no major traumatic-type alterations at the level of the enamel affecting the microstructure after the use of carbide cutters.     

钻速模式动态辨识方法研究

目的：钻进过程是一个复杂的工艺过程，影响钻速的因素错综复杂。为钻井参数优化和实时控制，提出钻速动态模型。方法：对影响钻速的因素进行分析，用系统辨识方法建立钻速模式。结果：利用该方法建立了华北油田岔河集地区的钻速模型，取得满意结果。结论：此动态钻速模式能更准确、科学地描述钻进过程，并在钻井参数最优化、钻井过程的闭环控制等方面具有广阔的应用前景。     

粉尘薄膜爆轰

与普通爆轰不同，粉尘薄膜爆轰波前氧化剂与燃料处于分离状态．由于激波作用下壁面燃料的注入才于壁面附近形成燃烧的粉尘云，燃烧释放的热使激波自持形成粉尘薄膜爆轰。本文在长2、8m，横截面20mm×20mm的方型水平激波管中对此类爆轰进行了实验研究．并根据作者建立的模型对其二维结构进行了数值模拟。     

磷酸盐玻璃中稀土离子的发光浓度效应研究

磷酸盐玻璃中稀土离子的发光浓度效应研究王民权，马立新，樊先平（浙江大学材料科学与工程系３１００２７）（南京航空航天大学）ＳｔｕｄｙｏｎＣｏｎｃｅｎｔｒａｔｉｏｎＥｆｆｅｃｔｓｏｆＲａｒｅＥａｒｔｈＩｏｎｓｉｎＰｈｏｓｐｈａｔｅＧｌａｓｓｅｓ￥Ｗａｎｇ...     

柴油助燃剂的开发方向

本文系统地介绍了各种柴油助燃剂。采用这些助燃剂可以提高柴油发动机和柴油燃烧器燃料完全燃烧程度，从而达到节能和保护环境的目的。     

薄Si膜对基底表面粗糙度的影响

利用ＺＹＧＯ光学干涉测量仪，散射积分测量法观测了光学元件表面均方根粗糙度．详细分析了薄Ｓｉ膜对基底均方根粗糙度的影响，由此认为薄膜并不总是复制基底表面的粗糙度，结果出现了薄膜降低表面粗糙度的现象．提出了一定厚度范围的薄Ｓｉ膜的表面粗糙度存在着一个稳定值的新设想．