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202.
203.
采用Cr_(25)Al_5合金进行煤渣/种子条件下静态腐蚀试验(温度1373-1573k,时间50-150hr),试验后得出三种温度下腐蚀重量变化与腐蚀时间的关系,并借助金相显微镜、扫描电镜和俄歇分析进行有关形貌及成份分析,试验表明,温度是材料腐蚀的主要因素,在1473k条件下材料的抗蚀性最好,Al、Si元素在腐蚀过渡层中富集,Cr元素变化不大,但有从基体向外扩散的趋势。由此,这一材料若能进一步改进,可望在控制壁面温度的半热壁型通道中进行试验研究。 相似文献
204.
讲述了参观Semicon/west94′展览会及考察美国和西德的5个公司、1所大学所了解到的投影光刻技术、电子束曝光技术、透镜面形测试技术的发展。 相似文献
205.
基于i860的存储器子系统设计 总被引:1,自引:0,他引:1
微处理机系统中的存储器子系统设计对整个系统性能的高低有重要的影响,尤其当微处理器的主频越来越高时。本文结合实际例子,给出了一个基于i860处理器(40MHz)的主存设计方案,讨论了实际中需仔细考虑的因素。该设计可为其它高性能RISC系统设计提供参考。 相似文献
206.
天津钢管公司DRC直接还原厂将采用英国戴维国际工程公司的DRC煤基直接还原技术,以铁矿石、煤、石灰石为原燃料,用回转窑来生产直接还原铁(DRI)。该厂将由两条回转窑生产线组成,每条生产线的生产能力为15万tDRI/年,回转窑规格为φ5.0m×80m。工厂生产主线将采用计算机集散控制系统(DCS)以实现对生产过程的自动控制。 相似文献
207.
在语音时域挑选剩余可懂度低的可用置换集合,置换集合是语音TDS系统中不可缺少的重要环节,本文给出了可用置换选取的条件、客观评价标准和方法。 相似文献
208.
Porous silica glass was prepared by sol-gel process from tetraethoxysilane (TEOS). The effects of solvents (water, ethanol), drying condition, heat treatment temperature on specific surface area and pore size distribution of porous silica were investigated. Gelation process accelerates with an increase of H2O content, while retards with the increase of ethanol amount. Structure changes during heat treatment were studied by means of DTA, XRD. TEM micrographs show that the gel particles shrink after heated at 500°C, thus the average pore size decreases. 相似文献
209.
A finite element formulation and the solution of a set of nonlinear coupled heat and mass transfer equations for a two-phase system with a moving evaporation interface is presented. The interface condition takes into account the moisture transfer balance at the moving boundary. The finite element results were compared with existing results for a single phase system for model validation. In the two-phase system, the movement of evaporation front has an appreciable effect on the temperature and moisture distribution inside the porous medium during drying. The effect of the nondimensional heat of vapourization parameter γ on the evaporation front, temperature and moisture distribution in porous medium was studied. The higher the value of γ, the slower is the movement of the evaporation front. The temperature decreased and the moisture content increased as the nondimensional vapourization parameter γ increased. This model has potential applications in studying the heat and mass transfer characteristics in food and biomaterials. 相似文献
210.
Dynamic oxide voltage relaxation spectroscopy 总被引:3,自引:0,他引:3
Mingzhen Xu Changhua Tan Yandong He Xiaowei Liu Yangyuan Wang 《Electron Devices, IEEE Transactions on》1996,43(4):628-635
A new method for trap characterization of oxidized silicon is described. The Dynamic Oxide Voltage Relaxation Spectroscopy (DOVRS) is an improved version of the formerly proposed Oxide Voltage Relaxation Spectroscopy (OVRS) technique which applies a periodic long duration constant current for tunneling injection. It has been demonstrated that the new technique can be used not only to separate and identify the oxide trap from interface trap, but also to separate and determine the centroid from the oxide trap density generated in the MOS system by the tunneling current stress. In the pulse constant current mode, the OVRS measurement can be completed instead of using the double current-voltage technique. Thus the new method results in more accurate and quicker measurements of the oxide trap centroid. Analytical expressions for computing the paramaters of the interface and oxide traps are derived. The effect of the channel carrier mobility on the spectroscopy is also considered. Two types of oxide and two types of interface traps were observed at a pulse constant Fowler-Nordheim current stress by the new method of DOVRS 相似文献