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An electromigration failure model which can be used to project the electromigration lifetime under pulsed DC and AC current stressing has been reported. The experimental results indicate that different metallization systems (Al-2%Si, Al4%Cu/TiW, and Cu) show similar failure behaviors, which can be explained and predicted by this model. The pulsed DC lifetime is found to be longer than DC lifetime, and the AC lifetime is found to be very much longer. This recognition can provide significant relief to circuit designs involving metals carrying pulsed DC and AC currents, and allow a more aggressive design to improve circuit density and speed 相似文献
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Weihua Jiang Zinsmeyer K. Less M. Schoenbach K.H. Kristiansen M. 《Electron Devices, IEEE Transactions on》1994,41(4):582-586
Results of electron-beam controlled switching experiments with switch samples of quartz crystal and polycrystalline zinc selenide (ZnSe) are presented. For switch samples of both materials, drastic reductions of the switch resistance were induced by the electron beam. The quartz sample showed very fast temporal response (less than 1 ns) with potential applicability for current control. The ZnSe samples, on the other hand, showed longer current transients (on the order of 10 ns) with exponential development of the switch resistance after the electron beam pulse 相似文献
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基于媒体用户访问行为偏好模型的代理缓存算法 总被引:2,自引:0,他引:2
目前,代理缓存技术广泛应用于改善流媒体传输的服务质量.文章从实际用户日志文件的分析出发,利用发现的用户浏览流媒体对象时的行为分布模型,提出了一种新的视频流媒体缓存算法.仿真结果证明,该算法可以通过记录很少的用户访问信息获取较高的性能表现. 相似文献
149.
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本文介绍了VAc/BA/MMA三元共聚的两种方法,并通过实验证实:聚合方法对三元共聚物的粘接强度有明显的影响。 相似文献