全文获取类型
收费全文 | 130713篇 |
免费 | 14546篇 |
国内免费 | 9638篇 |
专业分类
电工技术 | 11413篇 |
技术理论 | 2篇 |
综合类 | 13439篇 |
化学工业 | 16716篇 |
金属工艺 | 8481篇 |
机械仪表 | 9556篇 |
建筑科学 | 10921篇 |
矿业工程 | 5111篇 |
能源动力 | 3713篇 |
轻工业 | 13093篇 |
水利工程 | 3781篇 |
石油天然气 | 5286篇 |
武器工业 | 1928篇 |
无线电 | 14263篇 |
一般工业技术 | 11501篇 |
冶金工业 | 4783篇 |
原子能技术 | 1771篇 |
自动化技术 | 19139篇 |
出版年
2024年 | 528篇 |
2023年 | 2004篇 |
2022年 | 4578篇 |
2021年 | 5917篇 |
2020年 | 4411篇 |
2019年 | 3211篇 |
2018年 | 3595篇 |
2017年 | 3888篇 |
2016年 | 3552篇 |
2015年 | 5594篇 |
2014年 | 7275篇 |
2013年 | 8209篇 |
2012年 | 10283篇 |
2011年 | 10791篇 |
2010年 | 10138篇 |
2009年 | 9737篇 |
2008年 | 9775篇 |
2007年 | 9264篇 |
2006年 | 8532篇 |
2005年 | 6791篇 |
2004年 | 5345篇 |
2003年 | 4327篇 |
2002年 | 4933篇 |
2001年 | 4134篇 |
2000年 | 2773篇 |
1999年 | 1549篇 |
1998年 | 726篇 |
1997年 | 595篇 |
1996年 | 501篇 |
1995年 | 419篇 |
1994年 | 354篇 |
1993年 | 235篇 |
1992年 | 195篇 |
1991年 | 165篇 |
1990年 | 107篇 |
1989年 | 108篇 |
1988年 | 60篇 |
1987年 | 55篇 |
1986年 | 44篇 |
1985年 | 12篇 |
1984年 | 13篇 |
1983年 | 11篇 |
1982年 | 17篇 |
1981年 | 30篇 |
1980年 | 30篇 |
1979年 | 21篇 |
1978年 | 2篇 |
1966年 | 2篇 |
1959年 | 28篇 |
1951年 | 30篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 656 毫秒
131.
本文对各种运输方式易腐货物的运价进行了比较分析,对铁路冷藏运输的现行运价和保本运价进行了讨论,提出了铁路冷藏运输运价改革的若干建议,可供铁路进行冷藏运输改革参考。 相似文献
132.
并行哈夫曼编码器的硬件设计与实现 总被引:5,自引:4,他引:1
文章设计了一种并行编码的哈夫曼硬件编码器,它采用了流水线和并行编码方法,使得在一个时钟周期内可以编码一个字节的数据,在编码时显著降低了工作频率。文章给出了关键部分的实现方案并分析了实验结果。 相似文献
133.
液压系统广义可靠性设计 总被引:3,自引:0,他引:3
介绍了广义可靠性和有效度的基本概念,简要论述了对液压系统进行广义可靠性设计的重要性,并从可靠性设计和维修性设计两方面提出了提高液压系统有效度的具体措施。/ 相似文献
134.
阐述了会计信息失真的表现形式及其危害性,从会计自身、内控制度、外部审计、道德观念、执法等方面分析了会计信息失真的原因,并从完善法规制度、实行会计委派制、健全会计监督体系、加强立法和执法力度、更新观念、提高素质等方面提出了治理会计信息失真的办法,从根本上杜绝会计信息失真的现象。 相似文献
135.
石油测井仪器可靠性指标探讨 总被引:5,自引:1,他引:4
在分析常用可靠性指标及其应用现状的基础上,根据可靠性理论及石油测井仪器的特点。提出了石油测井仪器的可靠性模型。在探讨常用可靠性指标对石油测井仪器适用性的同时,提出将平衡稳定工作时间NWTURE和免维修测井井次NOLWNM作为石油测井仪器可靠性指标的思想;探讨了获取可靠性指标的途径。给出了推荐使用的石油测井仪器可靠性指标。 相似文献
136.
137.
通过对电、汽两用节能加热锅炉的描述,指出该设备具有投资少,无污染,能源转化率高,起停速度快,负荷调节范围大,结构简单,安全性能好并可充分利用电能等特点. 相似文献
138.
139.
140.
Si衬底上Ta-N/Cu薄膜性能研究 总被引:1,自引:0,他引:1
对Si衬底上Ta-N/Cu薄膜进行了电学和热学分析,结果发现500℃以下薄膜电随几乎不变,600-690℃下的退火引起的电阻率降低是由于Ta-N电阻的热氧化和Cu熔化扩散引起的,而690℃以上的电阻率增加是由于Cu引线传输能力减弱所致,为0.18μm以下的超大规模集成电路中的Cu引线和电阻薄膜的制作提供了有益的借鉴。 相似文献