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CHENSheng-ping LUKe-cheng LIYi-gang LIJia-fang ZHUJian-ping FENGMing LIJing 《半导体光子学与技术》2004,10(2):122-126
The effects of the variations in fiber length, fiber mirror reflectance on efficiency and output power are experimentally investigated for erbium-doped double pass backward superfluorescent fiber sources (SFSs). The influence of fiber length on mean wavelength stability (MWS) has also been demonstrated. By incorporating a short section of un-pumped erbium-doped fiber (EDF) at the output port, the pump power dependent on MWS becomes independent of pumped EDF length. This is a novel phenomenon that hasn‘t been reported up to now,and should be helpful to SFS fabrication and theory analysis. By using a fiber Michelson interferometer as spectrum slicing component,a multi-wavelength fiber source (MWFS) with ~20 channels (from 1542nm to 1559nm) is got. The MWFS has a channel spacing of ~0. 8 nm which satisfies ITUstandard. The intensity fluctuation among channels is less than 0.5dB,and the extinction ratio of all channels is above 14dB. This kind of MWFS should be useful to wavelength division multiplexing systems. 相似文献
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Cu—Zn—Al系合金热弹性马氏体相变的热滞 总被引:3,自引:0,他引:3
韩明 《有色金属材料与工程》1997,18(2):53-55
本文通过热处理工艺及添加第四组元研究了Cu-Zn-Al系记忆合金的相变热滞。结果表明,淬火冷却速度影响合金的相变热滞大小,随着母相时效时间的延长,马氏体相变热滞变大.Mn元素的加入可以减小CU-Zn-Al合金相变热滞. 相似文献
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本文在条状屏彩色显象管校正透镜设计的基础上,提出了蹼状屏彩色显示管校正透镜的优化设计方法并给出了设计实例,通过计算机模拟电子束轨迹和光线追迹,分析了校正透镜面型修正程序的精度。 相似文献
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We have discovered a new high-potency thermostable sweet protein, which we name brazzein, in a wild African plant Pentadiplandra brazzeana Baillon. Brazzein is 2,000 times sweeter than sucrose in comparison to 2% sucrose aqueous solution and 500 times in comparison to 10% of the sugar. Its taste is more similar to sucrose than that of thaumatin. Its sweetness is not destroyed by 80 degrees C for 4 h. Brazzein is comprised of 54 amino acid residues, corresponding to a molecular mass of 6,473 Da. 相似文献
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Electromigration reliability of interconnect under bidirectional current stress has been studied in a wide frequency range (mHz to 200 MHz). Experimental results show that the AC lifetime rises with the stress current frequency. The current density exponent and the activation energy of AC lifetime are found to be twice that of DC lifetime. Pure AC current stress failure at extremely high current density is believed to result from thermal migration of metal at hot/cold transition points 相似文献