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101.
中厚板表面质量分析   总被引:2,自引:0,他引:2  
牛玮  董胜峰 《轧钢》2002,19(2):33-34
在对济钢中厚板各种表面缺陷产生原因和几率进行综合分析的基础上 ,将缺陷分为 3类 :A类(折叠、麻点、划伤等 )、B类 (夹杂、结疤、分层 )、C类 (裂纹 ) ,重点对裂纹缺陷进行探讨 ,并提出了相应的改进措施。  相似文献   
102.
张忠培  王艺  周世东 《电子学报》2002,30(7):978-980
为了提高多载波CDMA(MC-CDMA)系统的抗干扰能力与系统容量,提出了一种将信道参数检测与纠错码译码联合运算进行的方法,得到了一种反馈级联结构.在分析MC-CDMA系统接收性能时,通常假设信道参数能精确估计,但对于时变信道在实现上是困难的;根据本文提出的级联结构,先用导频符号进行信道参数估计,再用导频符号的译码信息作为导频符号进行信道参数的进一步优化,构成一种联合检测译码结构,能有效地降低导频符号数量,并提高了信道参数估计精度.通过仿真,与传统的方法进行了性能比较,联合检测译码方案能获得较大系统增益,是一种优化方案.  相似文献   
103.
通过比较常规透射电镜制样法、快速冷冻固定-冷冻超薄切片法及磷钨酸乙醇(EPTA)染色法在嗜铬颗粒透射电镜X射线显微分析中的应用,发现磷钨酸乙醇染色法能使嗜铬颗粒电子着色,从而较好地显示嗜铬颗粒的超微结构。同时磷钨酸乙醇染色法也以在一定程度上原位保留生物样品中元素,可以应用于检测样品元素含量的变化或比较样品元素含量的组间差别,提示磷钨酸乙醇染色法是一种可应用于透射电镜X射线显微分析的经济简便的生物样品制备方法。  相似文献   
104.
并行哈夫曼编码器的硬件设计与实现   总被引:5,自引:4,他引:1  
文章设计了一种并行编码的哈夫曼硬件编码器,它采用了流水线和并行编码方法,使得在一个时钟周期内可以编码一个字节的数据,在编码时显著降低了工作频率。文章给出了关键部分的实现方案并分析了实验结果。  相似文献   
105.
介绍了栲胶法脱硫的原理,工艺流程及规整填料在脱硫塔中的应用。  相似文献   
106.
可靠性寿命试验中,一般都因受到费用和时间的限制,因此要用截尾试验获得信息,再据此对其可靠性进行统计推断,用非参数估计的方法探讨了进行可靠性试验的样本量或截尾时间的估计方法。  相似文献   
107.
高质量ZnO薄膜的退火性质研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
在LP-MOCVD中,我们利用Zn(C2H5)2作Zn源,CO2作氧源,在(0002)蓝宝石衬底上成功制备出皮c轴取向高度一致的ZnO薄膜,并对其进行500℃-800℃四个不同温度的退火。利用XRD、吸收谱、光致发光谱和AFM等手段研究了退火对ZnO晶体质量和光学性质的影响。退火后,(0002)ZnO的XRD衍射峰强度显著增强,c轴晶格常数变小,同时(0002)ZnOX射红衍射峰半高宽不断减小表明晶粒逐渐增大,这与AFM观察结果较一致。由透射谱拟合得到的光学带隙退火后变小,PL谱的带边发射则加强,并出现红移,蓝带发光被有效抑制,表明ZnO薄膜的质量得到提高。  相似文献   
108.
激光晶体Nd:YVO4的形貌及生长缺陷   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文报道了应用环境扫描电镜(ESEM)和同步辐射X射线白光形貌术对采用提拉法生长出的Nd:YVO4晶体进行的形貌及生长缺陷的分析,获得了该晶体的开裂表面的ESEM形貌像以及取自晶体肩部和中间部位的(001)面的同步辐射白光形貌像,观察到了位错、包裹物等缺陷,可为生长高质量的Nd:YVO4晶体提供重要的启示.  相似文献   
109.
应用AutoCAD已有的二次开发工具:AutoLISP、块和形定义及菜单开发对CAD在焊接领域应用进行了开发与定制。  相似文献   
110.
ZnGa2O4纳米晶的制备和结构表征   总被引:2,自引:0,他引:2  
采用喷射共沉淀法制备了ZnGa2O4 纳米晶,XRD、SEM和TEM结构分析结果表明,喷射共沉淀法制备的ZnGa2O4的纳米晶颗粒细小均匀,形状完整,与化学共沉淀法相比,粒子尺寸明显减小,小于10nm,同时ZnO杂相峰消失,分析了喷射共沉淀法的机理,并对实验结果进行了解释。  相似文献   
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