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11.
研究了从真空钙热还原炉渣中回收稀土的工艺条件;采用本工艺得到的合格稀土溶液,其回收率达65.41%;副产品氟化钙用作炼硅铁合金的助熔剂,使钙热还原炉渣得到综合利用。 相似文献
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高温高压下多种气体在储层岩心中吸附等温线的测定 总被引:8,自引:1,他引:7
利用自行研制的XF1型高温高压气体吸脱附测试仪,结合一台色谱分析仪(HP6890),一套抽真空系统,分别测定了N2、CH4、C2H6、C3H8、nC4及其混合气体在三个岩心中的吸脱附等温线共计42条(单组分30条,累计测试点516个;混合气12条,累计测试点203个),以及吸附平衡后混合气的自由气相组成、吸附相组成和各组分的吸附等温线各48条(累计测试点431个).测试的温度为50.5℃.实验结果表明:①储层岩心介质对烃类气体的吸附现象是客观存在的,不容忽视;②仅就测试所得的数据来看,如果忽略其它因素,可以初步估计,不考虑吸附的砂岩储层气藏的计算储量将比考虑吸附少5%以上;③岩心-气体吸附体系的吸附能力除受压力影响外,更受到储层介质、岩石成分、结构和物性性质的影响,除此之外,还受到多组分气体中重烃组分数目、摩尔含量等的影响;④多组分气体组分相对吸附量能有效地表征多组分气体中各组分气体的竞争吸附能力大小,依据这个指标可将五元多组分气体体系中各组分气体按其竞争吸附能力由强到弱排序为nC4>C3H8>C2H6>CH4>N2. 相似文献
14.
胜利油田污水储罐腐蚀防护方法评价 总被引:1,自引:0,他引:1
对胜利油田纯粱采油厂A3钢制生产污水(水温约60℃)储罐使用寿命过低的原因进行了实验考察。水质分析数据表明氯离子浓度高(45-48gm)是污水腐蚀性强的主要因素。A3钢在60℃污水中的腐蚀速率,由极化曲线数据计算的值大大高于失重法测定值,敞开系统中失重法测定值又高于密闭系统中测定值,挂片上出现蚀孔,说明储罐中A3钢发生了氧存在下氟离子引起的局部腐蚀(孔蚀)。元素分析结果表明.储罐阴极保护所用的牺牲阳极铝材含铁等元素量超标。牺牲阳极密封不良,在实验污水中7天后电流效率仅为2.92%,失去阴极保护能力。处于实验污水环境中的有涂层保护的A3钢.14天后出现腐蚀极化电流,表明涂层已失去完整性。要提高该采油厂及胜利油田其他采油厂污水储罐的使用寿命,必须改用合格的牺牲阳极和保护涂层材料。图3表2参7。 相似文献
15.
介绍了用CPLD辅助设计方法在嵌入式系统中进行MPU复杂逻辑功能设计的总体方案。给出了通过对XC5144中复用控制寄存器进行配置以实现MPU复位逻辑和CPM协议切换的实现方案和设计要点。 相似文献
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OU Yang-jun LI Hong-jian DAI Xiao-yu 《半导体光子学与技术》2006,12(4):245-249,261
Based on the charge injection and recombination processes and the triplet-triplet annihilation process, a model to calculate the electro.luminescent(EL) efficiency is presented. The influences of the applied electric field on the injection efficiency, recombination efficiency and electroluminescent efficiency are discussed. It is found that: (1) The injection efficiency is increasing while the recombination efficiency is decreasing with the applied electric field increasing. (2) The EL efficiency is enhanced at low electric field slowly but is decreasing at high electric field with the increase of applied voltage. (3) The EL efficiency is decreasing with the increase of the host-guest molecular distance (R). So, it is concluded that the EL efficiency in single-layer organic electrophosphorescent devices is dominated by injection efficiency at lower electric field and recombination efficiency at higher electric field. 相似文献
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