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71.
Conclusion The IS41M provides high accuracy in checking large surfaces for planarity deviation, and also during equipment installation. It contains no components requiring high-precision manufacture. The instrument is convenient to use and can be prepared for operation in not more than 10–15 min. The data do not need complicated processing and provide direct information on the deviation from planarity at the relevant point.Components of a machine can be set up in a single plane under direct control of the instrument, and the surface can be oriented at any angle in space.The instrument is suitable for use in the laboratory and under plant conditions and even in the open air, provided there is no precipitation.Translated from Izmeritel'naya Tekhnika, No. 8, pp. 48–49, August, 1978.  相似文献   
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76.
The external standard technique is developed for the quantitative determination of the content of arsenic, germanium, and selenium in As x (Ge y Se1 ? y )1 ? x glassy alloys by the X-ray fluorescence spectroscopy method. It is demonstrated that the proposed approach allows the glass compositions to be quantitatively determined with an accuracy of ±0.0002 for both x and y.  相似文献   
77.
The capacity for NbF5 of granulated sodium fluoride at 100 and 400°C and of magnesium fluoride at 125°C was determined. The choice of the sorbents and temperatures is governed by the possibility of using the sorbents at these temperatures for decontamination of UF6 from fission product impurities in reprocessing of spent nuclear fuel by the fluoride volatility technology. The presence of UF6 in the gases does not appreciably affect the sorbent capacities. Sodium fluoride at 400°C is suitable for decontamination of UF6 from NbF5 as one of impurities.  相似文献   
78.
Marchenko  A. V.  Seregin  P. P.  Terukov  E. I.  Shakhovich  K. B. 《Semiconductors》2019,53(5):711-716
Semiconductors - The formation of antisite defects in Ge20Te80 and Ge15As4Te81 vitreous alloys in the form of tin atoms in tellurium sites and tellurium atoms in germanium sites is shown by...  相似文献   
79.
Seregin  P. P.  Marchenko  A. V.  Nasredinov  F. S.  Zharkoy  A. B. 《Semiconductors》2019,53(5):633-637
Semiconductors - The parameters of the emission Mössbauer spectra of PbTe using the 119mSn daughter isotope with different parent nuclei 119mmSn, 119Sb, and 119mTe are compared. This...  相似文献   
80.
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