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41.
针对目前爆轰试验中使用的机械密封射频连接器存在的问题.设计了基于玻璃封接技术的新型密封射频连接器结构,并进行了射频反射补偿计算和强度分析.本项研究为爆轰条件下新型密封射频连接器的研制提供了设计依据. 相似文献
42.
高精度快速可控光纤真延迟线实验研究 总被引:1,自引:0,他引:1
在相控阵雷达中使用光纤实时延迟技术,可实现大角度瞬时宽带扫描.利用半导体光放大器和法拉第旋转镜实现了快速切换的延迟线,此技术具有切换速度快,延迟精度高,输出功率恒定,偏振不相关等优点.实验结果表明,此结构能够实现1 ps的延时精度,误差不超过0.1 ps. 相似文献
43.
以间-二氯苯为原料,乙酸酐为酰化试剂,合成2,4-二氯苯乙酮.考察影响酰化反应的主要因素,结果表明最适宜的反应条件是:间-二氯苯:乙酸酐的摩尔比为2:1,缓慢滴加乙酸酐时温度保持在50℃左右(低于60℃),然后回流反应温度上升至90~95℃,搅拌并保持约2.5h,最终所得产品收率可达81.8%. 相似文献
44.
45.
An investigation has been carried out into the possibility of in situ formation of MoS2 within porous anodic films on aluminium, to improve subsequent tribological behaviour, by re-anodizing in thiomolybdate electrolyte. Acidification of thiomolybdate was employed to simulate the conditions for formation of the sulphide at the anodic film/electrolyte interface, followed by appropriate vacuum heat treatments to study possible temperature effects on the sulphide due to either friction or Joule heating during anodizing. The products of both acidification and heat treatment, characterized by X-ray powder diffraction and scanning electron microscopy, were compared with those formed by direct thermal decomposition of ammonium tetrathiomolybdate crystals. The precipitate formed by acidification was mainly amorphous molybdenum trisulphide (MoS3), which on heat treatment at 450 and 850°C yielded 3R-MoS2. 3R-MoS2 also formed by the thermal decomposition of thiomolybdate crystals. Thermogravimetric and differential thermal analyses showed that the decomposition of MoS3 to MoS2 occurred in the range 220–370°C and revealed the sequence of reaction steps. The findings suggest that mainly amorphous MoS3 is formed as a consequence of changes in the pH of the film/electrolyte interface during re-anodizing but the product is relatively easily transformed to crystalline MoS2 on moderate heating which may occur during wear processes. 相似文献
46.
分别测量了LaNi4.25Al0.75和LaNi4.75Al0.25两种合金样品在未吸氘及不同含氘量的氘化物样品的中子衍射谱,用Rietveld程序拟合出它们的晶体结构,并观察到了一些过去未曾注意的现象.LaNi4.25-Al0.75在吸氘过程中,氘原子优先占据的原子坐标为(0.17,0.32,0.45). 相似文献
47.
48.
Cheol-Min Park Byung-Hyuk Min Jae-Hong Jun Juhn-Suk Yoo Min-Koo Han 《Electron Device Letters, IEEE》1997,18(1):16-18
We have fabricated a self-aligned offset-gated poly-Si thin film transistor (TFT) by employing a novel photoresist reflow process. The gate structure of the new device is consisted of two unique patterns: A main-gate and a sub-gate. The new fabrication method extends the gate-oxide over the offset region. With the assistance of the sub-gate and reflowed photoresist a self-aligned offset region is successfully obtained due to the offset oxide acting as an implantation mask. The poly-Si TFT with symmetrical offsets is easily fabricated and the new method does not require any additional offset mask step. Compared with the misaligned offset gated poly-Si TFTs, excellent symmetric electrical characteristics are obtained 相似文献
49.
50.
隧道小孔中超薄SiO2的生长是EEPROM电路制造的关键工艺之一。采用SUPREM-Ⅲ工艺模拟程序对超薄SiO2的热生长进行了工艺模拟,经过大量的工艺实验及优化,确定了超薄SiO2的最佳生长条件,生长出的SiO2性能良好,完全可满足EEPROM研制的要求。 相似文献