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21.
对几种普遍使用的粒度测试技术进行了比较,认为激光衍射法测量结果的重复性最好,测量精度高,对粒径范围较窄的球形粉体(单分散颗粒),分别采用激光衍射法、电阻法、沉降法和显微镜法测量的中位径(D50)值具有可比性;对粒径范围较宽的球形粉体,只有激光衍射法、电阻法和显微镜法测量的中位径D50值具有可比性,沉降法的测量结果相对误...  相似文献   
22.
介绍了金刚石低压气相沉积薄膜的组织结构与性能、应用前景和市场分析预测,以及金刚石低压气相沉积基本原理和工艺方法;并着重介绍了近年来国外有关低压气相沉积金刚石涂层硬质合金方面的研究动态.  相似文献   
23.
分别对沉降式离心粒度分析仪的自然沉降与混合沉降以及混合沉降与离心沉降进行了比较试验,结果表明,当最大粒径值达到混合沉降测量模式的上限,即临界粒径值时,应对两种测量模式进行比较试验,才能从中选出最佳测量模式;对超细粉体而言,4μm以下的颗粒才适合选用离心沉降模式,最大粒径大于4μm时,应用混合沉降模式测量。  相似文献   
24.
提高氧化铍的热导率,既能助其开拓新的发展空间,又能满足电子器件的散热需求,因而利用热丝化学气相沉积法在氧化铍上沉积得到与基体串、并联方式不同的、利于提高导热率的各种金刚石薄膜.通过扫描电镜和原子力显微镜观察薄膜表面的晶体形貌:采用X射线衍射仪分析薄膜成分;借助热物性激光测试仪测量金刚石膜/氧化铍基复合体的热扩散系数,并计算其热导率.结果表明:镀膜后可使氧化铍的热导率提高12.1%~34.4%;基体预处理方法、金刚石膜和氧化铍基体的串、并联方式对复合体的热导率均有较大影响.  相似文献   
25.
刘沙  易丹青  余志明 《矿冶工程》2002,22(2):114-116
采用XRD, SEM, Raman 光谱仪等分析检测手段, 研究了YG15 硬质合金基体经表面二步法浸蚀后, 在其表面用热丝法沉积出的金刚石薄膜的晶体结构、组织及化学纯度等。结果表明:硬质合金基体表面一定深度范围内Co 含量的变化, 对金刚石薄膜的晶体结构取向、组织形态及化学纯度等有很大影响。CVD 沉积温度从900 ℃降至800 ℃, 后一温度下的金刚石薄膜的晶粒尺寸是前一温度下的1/5 。沉积温度降低至700 ℃左右时, 薄膜的金刚石纯度大大降低。  相似文献   
26.
金刚石涂层用硬质合金基体表面预处理新技术   总被引:2,自引:0,他引:2  
研究了二步法浸蚀YG15硬质合金基体表面预处理的过程,并在浸蚀过的硬质合金基体上,用热丝法沉积了金刚石薄膜。结果表明,二步浸蚀法可在基体表面深度为6~12um的范围内,使Co含量从15%降低到0.85%~5.42%,并使硬质合金基体的表面粗糙度增加到Ra=1.0um,但会导致硬质合金基体表面的硬度从HRA85.5降低至HRA83.3;在该硬质合金基体沉积金刚石薄膜之后,发现样品的金刚石薄膜组织结构具有{110}和{111}面混合取向,金刚石涂层与硬质合金基体具有较高的粘结强度。  相似文献   
27.
Zn对2195铝锂合金显微组织和拉伸性能的影响   总被引:1,自引:0,他引:1  
研究了Zn对2195铝锂合金在不同热处理状态(T8,T6)下的显微组织和拉伸性能的影响。结果表明:Zn的存在明显促进了T1相的析出和弥散分布,而且有球形颗粒状含Zn相析出,使合金强度提高:但Zn的加入不改变2195合金的断裂机制,且使合金塑性略有下降。  相似文献   
28.
特细砂混凝土在我国一些地区的建筑工程中普遍使用,但是,在特细砂混凝土施工时,极易出现分层现象,这就造成沿纵向的强度分布不均匀。从实际出发,初步分析了特细砂混凝土强度的纵向分布情况。  相似文献   
29.
利用直流磁控溅射法在玻璃衬底上制备了ZnO:A l(ZAO)透明导电薄膜。详细研究了沉积时的基片温度、氧分压强对膜的透光率和电阻率的影响。结果表明:ZAO薄膜具有六角纤锌矿结构且呈c轴择优取向,晶粒垂直于衬底方向柱状生长;衬底温度和氧分压对薄膜的电阻率有很大影响;基底温度对薄膜的可见光透过率影响不大,但随氧分压的增大而增大;在衬底温度为250℃、氧分压为1%时,薄膜有最优化的电阻率和平均透光率,分别达到8.35×10-4Ω.cm和85.2%。  相似文献   
30.
Cr/CrN/CrNC/CrC/Cr-DLC梯度膜层的研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
采用中频磁控溅射结合离子源技术沉积Cr/CrN/CrNC/CrC/Cr-DLC膜层。利用扫描电镜(SEM)、电子能谱(EDS)、Raman光谱和俄歇深层剥层分别对膜层微观形貌、成分组成、键结构及梯度成分深层分布进行分析;采用努氏显微硬度计、摩擦磨损试验机、划痕仪及洛氏硬度计测评膜层机械性能。结果表明:采用中频磁控溅射可沉积出大面积Cr/CrN/CrNC/CrC/Cr-DLC梯度膜层;Cr溅射功率对C键结构影响不大,但表层DLC中Cr的含量和膜层厚度随中频功率增大而增大;随DLC中掺Cr量增多,膜层硬度及摩擦因数略有上升;采用梯度过渡层及掺入金属Cr提高了膜层附着力,但过高的中频功率使沉积离子能量偏高,膜层压应力增加反而降低了膜层附着性能。  相似文献   
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