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近年来,在遥感、遥测、制导、预警、夜视、深空监视、以及医学诊断等领域中,SiGe/p-Si异质结红外探测器及红外焦平面阵列技术已显示出重要的应用前景[1]。为了提高了探测器的量子效率,采用了叠层结构的发射极[2]。因此,器件的性能与其微结构、界面状况和其中的晶格缺陷有密切的关系。本文采用定位横断面试样制备技术对三层和六层叠层结构的红外探测器进行了观察,研究了界面的结构和确定了缺陷的特征。衬度像和电子衍射表明,p-Si衬底的表面平整,取向为[100]。衬底中未见晶体缺陷。Si0.65Ge0.35叠层被未掺杂(UD)Si层分隔开。Si0.65Ge0.35… 相似文献
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Bi—2223/Ag超导带材Ag—BSCCO界面的TEM研究 总被引:1,自引:1,他引:0
用TEM研究了银包套Bi2223超导带材的Ag/BiSrCaCuO(BSCCO)界面。大多数界面平直,连接很好,2223相的(001)面平行于界面;有台阶状界面出现,偶尔在界面上观察到半个2201单胞层。银与超导体之间不存在固定的位向关系。 相似文献
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TransmisionElectronMicroscopeStudyofYBCO/CeO2/SiSuperconductingMultilayerFilmsLiHao(李灏),LiuAnsheng(刘安生),GuHongwei(古宏伟),ChenL... 相似文献
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阐述了高分辨二次电子成分衬度像的成像原理,成像条件和实验方法,介绍了一种新的试样制备方法,讨论了各种制样方法的特点。以多层P^+-Si21-xGex/p-Si半异质结内光发红外探测器为例,介绍了二次电子成发衬度像观察技术在异质结半导体材料和器件微结构研究中的应用。将这种技术与通常的透射电子衍射衬度方法进行了比较,讨论了它在异质结半导体材料和器件中的应用前景。 相似文献
87.
采用横断面的透射电子显微术,扫描电子显微术和高分辨电子显微学方法,研究了GeSi沟道p-MOSFET的微结构。观察表明,器件是由Si基片/SiO2非晶层/SOISi层/GeSi沟道层/超薄SiO2非晶层/Si细晶层/SiO2非晶层/Al电极层等组成的;SOISi层工作区单晶性良好,很难找到缺陷,缺陷能效地被限制在工作两侧的缺陷聚集区;在SOSSi层和GeSi沟道层之间存在着一些瓣状衬底,它可能是在 相似文献
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铁路电气化工程用的接触线端锚固线夹锥套 ,系采用H6 2黄铜制造 ,用于导电铜接触线的锚固。在使用过程中发生开裂破损 ,导致铜导线脱落。本文采用扫描电子显微镜、X射线能谱仪、金相显微镜等设备对其进行了全面的失效分析 ,通过对其断口特征的分析 ,加工工艺分析、受力分析 ,找出了该夹锥套的断裂原因。实验通过扫描电镜和X射线能谱仪 ,对断口进行了成分分析。在断口上发现大量的S ,少量的Cl等腐蚀性元素。同时还在断口上发现有Mg ,Al,Si,K ,Ca,Ti,Fe等非基体元素。从断口形貌上可以看到 ,试样的断口呈脆性断裂的颗粒状… 相似文献
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90.
水力旋流器用于高含油油水混合液分离的试验 总被引:7,自引:1,他引:6
在脱油型水力旋流器的基础上,通过改变部分几何参数设计试制的预分离水力旋流器能适应处理含油量小于20%的污水的要求。现场试验表明,入口含油浓度Ci在6%~15%之间,分流比F=1.3Ci,处理后水的含油量可降至0.5%以下,底流仍有0.35MPa的压力,分离效率可达97%,能满足油田生产的使用要求。 相似文献