全文获取类型
收费全文 | 232篇 |
免费 | 42篇 |
国内免费 | 2篇 |
专业分类
电工技术 | 7篇 |
综合类 | 9篇 |
化学工业 | 51篇 |
金属工艺 | 14篇 |
机械仪表 | 33篇 |
建筑科学 | 5篇 |
矿业工程 | 14篇 |
能源动力 | 5篇 |
轻工业 | 13篇 |
水利工程 | 8篇 |
石油天然气 | 31篇 |
武器工业 | 1篇 |
无线电 | 46篇 |
一般工业技术 | 18篇 |
冶金工业 | 6篇 |
原子能技术 | 4篇 |
自动化技术 | 11篇 |
出版年
2024年 | 3篇 |
2023年 | 12篇 |
2022年 | 5篇 |
2021年 | 5篇 |
2020年 | 6篇 |
2019年 | 14篇 |
2018年 | 16篇 |
2017年 | 5篇 |
2016年 | 6篇 |
2015年 | 7篇 |
2014年 | 10篇 |
2013年 | 11篇 |
2012年 | 8篇 |
2011年 | 8篇 |
2010年 | 8篇 |
2009年 | 12篇 |
2008年 | 8篇 |
2007年 | 19篇 |
2006年 | 14篇 |
2005年 | 25篇 |
2004年 | 15篇 |
2003年 | 10篇 |
2002年 | 13篇 |
2001年 | 9篇 |
2000年 | 10篇 |
1999年 | 5篇 |
1998年 | 5篇 |
1997年 | 2篇 |
1996年 | 1篇 |
1994年 | 1篇 |
1993年 | 3篇 |
排序方式: 共有276条查询结果,搜索用时 0 毫秒
81.
82.
固体电极对于制备可实现高效能源转换和气体排放控制的固体氧化物器件具有重要意义。固体氧化物电极广泛用于固体氧化物燃料电池和电解池,然而其高温可靠性不完全令人满意。由铂(Pt)和氧化钇稳定的氧化锆(yttria stabilized zirconia,YSZ)制成的复合电极Pt/YSZ已广泛应用在氧气和氮氧化物(NOx)气体传感器上,即使在恶劣条件下其也表现出良好稳定性。常规Pt/YSZ电极Pt含量较高,增加了材料成本。本文旨在开发一种基于Pt、钆掺杂的氧化铈(10 mol%gadolinia doped ceria,GDC10)和氧化钇稳定的氧化锆(5 mol%yttria stabilized zirconia,5YSZ)的三组分固体电极,同两组分的Pt/YSZ电极相比,三组分电极Pt/5YSZ/GDC10的极化电阻和Pt含量都较低。在该三组分电极中,5YSZ可强化电极同5YSZ电解质间的连接,电极最佳组分(Pt/5YSZ/GDC10)配比为1:1:1。通过引入适当石墨,可以进一步降低电极铂含量,同时可以达到更低的极化电极电阻。石墨最佳添加量在10-30wt.%。电极进行SDC20浸渍处理可显著提升其电性能。浸渍后的电极对温度变化更敏感,活化能为100-120 k J·mol~(-1)。电极同电解质共烧与二者单独烧结相比,前者的电极电阻稍高。 相似文献
83.
84.
多面体低聚倍半硅氧烷(POSS)是基于化学键合作用形成的分子内杂化体系,其改性后的材料是一类具有广泛潜在应用价值的新型有机-无机杂化材料。文中介绍了多面体低聚倍半硅氧烷单体的结构、性能、单体及其衍生物的合成,以及其改性聚合物材料在航空、航天、卫生、电子等高科技领域内的应用前景。针对国内的研究现状,指出低聚倍半硅氧烷-聚合物杂化体系研究所存在的问题。 相似文献
85.
利用MOUNT SOPRIS系列Ⅲ测井资料对矿区工作面上覆地层的裂隙、冒落带及塌陷地层进行综合解释 ,了解其发育情况 ,对指导矿区的安全生产、开采边界的确定、开采煤柱的留舍和地面建筑的保护颇有益处 相似文献
86.
87.
刘长军 《辽阳石油化工高等专科学校学报》2001,17(2):46-48
通过工艺分析及实验研究,揭示了钎料选择不当,钎剂没有进行脱水处理,钎焊工艺选择不当,钎焊法中电压参数不稳定及钎焊过程中刀槽发生了较大的塑性变形是引起硬质金刀具焊的主要原因,进而提出相应的控制措施。 相似文献
88.
89.
含环向裂纹等径焊制三通极限压力(I)——有限元分析 总被引:6,自引:3,他引:3
采用三维弹塑性小变形有限元技术,对内压下含以腹部为中心的环向裂纹等径焊制三通的极限载荷进行了系统分析.结果表明,浅裂纹(a/T≤0.5)和短深裂纹(a/T≥0.75)对极限压力影响很小,肩部中心裂纹对三通极限承载能力的削弱远小于腹部中心裂纹.此结果可为压力管件完整性评估提供基础数据. 相似文献
90.
介绍了ABAQUS二次开发的基本原理。通过开发Python脚本程序控制完成了橡胶金属环的性能分析过程中的前处理和后处理过程,并将静态刚度二次开发得到的结果与试验结果进行了对比分析,验证了二次开发的可靠性。 相似文献