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本文通过X射线衍射定性及定量地分析了在100~1100℃的加热过程中,含有一定量H_3BO_3的共沉淀FSZ粉料中相结构的变化。在100~800℃的过程中,共沉淀法制备的非晶态原料粉逐渐地转变为完全的晶态,该相变过程由于受脱水的影响,在500℃上下表现出不同的特征。加热温度高于800℃后,在该粉料中所掺的H_3BO_3使得FSZ失稳产生大量的单斜ZrO_2。 相似文献
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ZrO2溅射膜的柱状生长机制 总被引:2,自引:1,他引:1
气相沉积ZrO2膜常为柱状结构,要更好地控制ZrO2膜性能,需要研究ZrO2膜中柱状结构的形成和演化规律.在射频溅射条件下沉积了ZrO2膜,发现该膜的柱状晶具有{111}面织构,其底层可能还有等轴晶.提出以下柱状晶形成机制在光滑(玻璃)基片上形成的柱状晶源自于在基片表面形成的具有{111}面织构的最初晶核;在较为粗糙(多晶Al2O3)基片表面上形成的柱状晶源自于〈111〉晶向与沉积物质流方向一致的晶核择优生长及随后对其它取向的小晶核的吞噬而形成的晶核群.基片表面粗糙时,由于柱状晶核经过晶核筛选产生,柱状晶底部可能有等轴晶层;若温度较低,出现等轴晶层可能性更大. 相似文献
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用“三电极法”测量Pt/ZrO2电极系统的过电位。用数学模拟分析从中分离出电化学过电位。发现该电极系统在400-600℃温度范围内极化的原因是电子在Pt与ZrO2表层之间的输运不够快。提出了一种活化电极工艺。 相似文献
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