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121.
在码分多址(CDMA)系统中,功率控制被认为是所有关键技术的核心,可以有效地克服远近效应和多址干扰的影响。提出了一种新的基于最小均方误差(MMSE)多用户检测的分布式功率控制算法。实验结果表明,该算法具有收敛速度快,功率控制效果好的优点,使用该算法可以有效降低系统内用户发射的总功率,同时系统容量也得到一定程度的提高。 相似文献
122.
基于图像活动性的自适应内插方法 总被引:3,自引:0,他引:3
介绍了分辨率降低模式下重建原始图像的基本方法,根据3次B样条内插函数和小波逆变换的特点,提出了基于图像活动性的自适应重建图像算法。试验结果表明:采用该方法重建的图像较采用传统的内插方法得到的重建图像具有更高的信噪比。 相似文献
123.
基于图像活动性的序列图像分形编码方法 总被引:2,自引:0,他引:2
介绍了分形的概念以及分形压缩的主要思想;阐述了传统的分形图像压缩编码的基本原理与实现方法;提出了一种基于图像活动性序列图像分形编码方法。该方法首先由相邻帧之间的预测差值来判断当前编码块的活动性,然后根据图像的活动性,对不同特性的块采用不同的分形编码策略,最后对编码后得到的迭代函数系统(IFS)码进行可变长度编码(VLC),以获得更高的压缩比。 相似文献
124.
125.
126.
127.
128.
建立凝固过程中宏观流动、传热、溶质传输与微观形核、生长过程双向耦合数学模型,并针对Al-Si二元合金凝固过程进行二维元胞自动机控制容积积分法(CA FV)耦合模拟。模型反映了流场下晶体逆流生长特性,考虑了温降导致的形核和生长以及形核和生长引起的固相分率变化对宏观场的影响,能预测凝固过程中再辉和晶间偏析等现象,反映合金液流动对合金的溶质分布以及凝固组织形貌的作用规律。与仅宏观传输模拟结果和无流动影响的模拟结果进行了对比,验证了耦合模型的优越性。同时考察了铸型尺寸对凝固组织形貌的影响。 相似文献
129.
130.
氮氧化技术是45 nm及以下技术节点栅介质制备的关键工艺,严格控制由氮氧化工艺所诱发的界面缺陷是提高栅介质质量的重点.研究了形成栅介质氧化层缺失缺陷的原因,并提出了解决方案.结果表明,原位水蒸气生成(ISSG)热氧化形成栅介质氧化层后的实时高温纯惰性氮化热处理工艺是形成栅介质氧化层缺失缺陷的主要原因;在实时高温纯惰性氮化热处理工艺中引入适量的O2,可以消除栅介质氧化层的缺失缺陷.数据表明,引入适量O2后,栅介质氧化层的界面陷阱密度(Dit)和界面总电荷密度(ΔQtot)分别减少了12.5%和26.1%;pMOS器件负偏压不稳定性(NBTI)测试中0.1%样品失效时间(t0.1%)和50%样品失效时间(t50%)分别提高了18%和39%;32 MB静态随机存储器(SRAM)在正常工作电压和最小工作电压分别提高了9%和13%左右. 相似文献