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Bochkareva  N. I.  Ivanov  A. M.  Klochkov  A. V.  Kogotkov  V. S.  Rebane  Yu. T.  Virko  M. V.  Shreter  Y. G. 《Semiconductors》2015,49(6):827-835
Semiconductors - It is shown that the emission efficiency and the 1/f noise level in light-emitting diodes with InGaN/GaN quantum wells correlate with how the differential resistance of a diode...  相似文献   
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针对不合格品的高效处置、数据的有效分析对企业质量控制具有深远的意义,其是装备制造领域质量管理研究的重点。文章以SAP接口二次开发、IQS流程建模、数据库建立、系统实用价值等方面展开详细论述,确保质量信息可追溯分析。  相似文献   
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