Direct Ink Writing of Highly Conductive MXene Frames for Tunable Electromagnetic Interference Shielding and Electromagnetic Wave?Induced Thermochromism

The highly integrated and miniaturized next-generation electronic products call for high-performance electromagnetic interfer?ence (EMI) shielding materials to ...     

无线Ad hoc网络中的联合信源信道有效用户安全识别方法

无线Ad hoc网络采用无线信道、有限电源、分布式控制等技术,因此存在信道安全威胁和大量的能量消耗等问题。为了克服以上问题,论文提出了一种基于DS-CDMA的无线Ad hoc联合信源信道有效用户安全识别方法,对已知头标识采用加密保护,在接收机结点处应用基于子空间的多用户检测技术,并通过有效用户识别方法只对头部数据进行有效用户安全识别,。仿真实验表明：本方法改善了漏警概率和活动用户数估计精度,不但减少了丢弃重发,节省无线模组工作时的能量消耗,同时达到了对有效用户安全识别的目的,提高了信道安全性能。     

纳米电子器件及其集成

对基于Top-Down加工技术的纳米电子器件如：单电子器件、共振器件、分子电子器件等的研究现状、面临的主要挑战等进行了讨论. 采用CMOS兼容的工艺成功地研制出单电子器件，观察到明显的库仑阻塞效应；在半绝缘GaAs衬底上制作了AlAs/GaAs/In0.1Ga0.9As/GaAs/AlAs双势垒共振隧穿二极管,采用环型集电极和薄势垒结构研制的共振隧穿器件，在室温下测得其峰谷电流比高达13.98，峰电流密度大于89kA/cm2；概述了交叉阵列的分子存储器的研究进展.     

分子谱线参数测量新方法

介绍了一种利用F-P腔透射峰宽度测量分子谱线参数的新方法,论文从多光束干涉叠加原理出发,推导出有样品气体吸收的F-P腔的透过率函数,F-P腔的透过率是样品气体吸收线型的函数,随着样品吸收的增加,F-P腔透射条纹宽度增加.实验测量得到的谱线强度与HITRAN2004数据库数据、谱线宽度与理论计算结果很好地一致.     

3.66μm激光外差光谱仪设计与水汽柱浓度反演

激光外差光谱测量技术具有光谱分辨率高、探测灵敏度高、成本低等特点,近年来在温室气体探测、激光大气传输等领域得到了广泛的应用。以3.66 μm 分布反馈式带间级联激光器作为本振光源搭建了一套高分辨率激光外差太阳光谱测量装置,实现了水汽吸收光谱的实时测量,并利用最优估算法对整层大气中的水汽柱浓度进行了反演,得到合肥地区2019年5月22日和23日的水汽柱浓度。反演结果与同步进行观测的傅里叶变换光谱仪EM27/SUN测量结果变化趋势一致,相关性优于0.8,偏差小于15%。研究结果表明,搭建的激光外差测量装置能够实现大气中水汽吸收光谱的实时测量以及水汽柱浓度的精确反演,同时为后续的水汽浓度廓线测量与研究奠定了基础。     

基于最佳鉴别准则的目标识别方法

讨论了使用最佳鉴别准则作为特征提取的方法识别飞机的问题。在介绍最佳鉴别集求法之后,通过计算距离可分性测度得出该方法比一般的Ｋ－Ｌ变换提取特征具有更好的可分性;最后用模糊ＡＲＴＭＡＰ神经网络作为分分类器以处理后的数据进行识别。对某相控阵雷达所得到的三类过航飞机的数据识别结果表明,该方法可以得到更高的识别率。     

千瓦级3倍衍射极限的高功率热容激光器

开展了热容激光器光束质量控制研究,进行了耦合系统的优化设计,采用了透镜压缩结合波导匀化的设计思想,使抽运均匀性提高到90%的水平;进一步建立了有源非稳腔的理论分析模型,针对热容激光器的抽运条件开展了非稳腔的优化设计,实验结果表明实现了2.7倍衍射极限的千瓦级热容激光输出.     

Photoluminescent Arrays of Nanopatterned Monolayer MoS2

Monolayer 2D MoS₂ grown by chemical vapor deposition is nanopatterned into nanodots, nanorods, and hexagonal nanomesh using block copolymer (BCP) lithography. The detailed atomic structure and nanoscale geometry of the nanopatterned MoS₂ show features down to 4 nm with nonfaceted etching profiles defined by the BCP mask. Atomic resolution annular dark field scanning transmission electron microscopy reveals the nanopatterned MoS₂ has minimal large‐scale crystalline defects and enables the edge density to be measured for each nanoscale pattern geometry. Photoluminescence spectroscopy of nanodots, nanorods, and nanomesh areas shows strain‐dependent spectral shifts up to 15 nm, as well as reduction in the PL efficiency as the edge density increases. Raman spectroscopy shows mode stiffening, confirming the release of strain when it is nanopatterned by BCP lithography. These results show that small nanodots (≈19 nm) of MoS₂ 2D monolayers still exhibit strong direct band gap photoluminescence (PL), but have PL quenching compared to pristine material from the edge states. This information provides important insights into the structure–PL property correlations of sub‐20 nm MoS₂ structures that have potential in future applications of 2D electronics, optoelectronics, and photonics.     

应变硅结构的高分辨X射线衍射及其图谱分析

运用高分辨X射线双晶衍射(DCD)、三轴晶衍射(TAD)和TAD图谱对绝缘体上Si/SiGe/Si异质结构进行表征.利用TAD结合DCD(TAD-DCD)对称和非对称衍射测定了体Si衬底和外延层以及外延层之间的取向关系、SiGe外延层的Ge含量及其弛豫度等异质外延生长的重要参数.TAD倒易空间图谱能够给出全面的晶体结构信息.高分辨率TAD倒易空间图谱可实现对应变Si层应变量的测定.