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31.
HPGe探测器点源效率与其空间位置的函数关系 总被引:1,自引:0,他引:1
本文采用蒙特卡罗(MCNP)模拟与实验相结合的方法,计算了HPGe探测器(美国Ortec公司产品,相对效率40%,对1332keV的分辨率为1.8keV)对空间不同位置、不同能量点源的探测效率,对Masayasu等[1]提出的点源径向表达式作了修正,改进了与实验值(或MC模拟值)的一致性;给出了HPGe探测器效率随点源位置变化的解析表达式;证明了应用MCNP模拟方法确定探测器对于点源的探测效率函数的可靠性和实用性,也有助于对体源效率的测量和计算。 相似文献
32.
33.
介绍了点阵式液晶显示器在堆中子活化自动辐照系统中的应用方法,给出了用该液晶显示器与飞利浦P89C669单片机的硬件接口电路,以及软件设计方法,并给出了显示汉字和字符所必须的一些基本子程序。结果表明QH2001能满足我们的要求。 相似文献
34.
以放化分离和仪器中子活化分析相结合对已经认证、但稀土元素(REE)含量尚未定值的国家一级标准物质人发(GBW09101)、小麦(GBW08503)中的稀土元素进行了超痕量定值分析,利用单步放化分离流程同时定量分离了稀土元素以及涉及到裂变和γ能谱干扰校正的U和Ba,对含量为0.1~30ng/g的La、Ce、Nd、Sm、Eu、Tb、Yb、Lu等8种稀土元素进行定值分析。并针对比例讨论了ICP-MS和NAA对部分稀土元素进行超痕量分析的优势和劣势。 相似文献
35.
离子束辅助沉积A12O3薄膜的微观状态及其物理特性研究 总被引:1,自引:0,他引:1
本利用透射电子显微镜、原子力显微镜、X光电子能谱等微观分析手段,系统研究了氧离子束辅助离子束沉积方法制备的Al2O3薄膜的化学成分、微观结构、表面形貌及其随退火温度的变化,并对Al2O3薄膜折射率、显微硬度和膜基结合强度等物理特性及其随沉积温度的变化进行了详细研究。研究发现:用离子束辅助沉积制备的薄膜基本满足Al2O3的标准成分配比;在沉积温度低于500℃制备的Al2O3薄膜以非晶Al2O3相a—Al2O3为主;Al2O3薄膜的表面粗糙度、折射率、显微硬度随沉积温度的增加而增加;当沉积温度高于200℃时,薄膜与基体间的膜基结合强度将随沉积温度的增加而下降。分析表明:薄膜表面形貌与晶体内部的结构相变有关,薄膜的退火相变途径为a—Al2O3800℃→γ-Al2O31000℃→γ-Al2O3 α-Al2O31200℃→α-Al2O3。 相似文献
36.
37.
中子活化分析在当代无机痕量分析计量学中的作用Ⅲ. NAA用于多元素取样行为的定量表征 总被引:2,自引:0,他引:2
讨论了研制适用于微分析质控的新一代有证标准物质(CRM)的必要性,以及NAA在新一代CRM认证中的作用。归纳了NAA在当代无机痕量分析计量学发展中的三个作用:NAA作为比较基准法的国际承认,将对现代CRM质量的提高作出贡献;k0-NAA的同时使用,将进一步增强相对法NAA的基准法地位;NAA在适用于微分析质控的新一代CRM认证中将发挥不可替代的作用。 相似文献
38.
39.
40.
带电粒子薄层活化法(TLA)以其高灵敏、非破坏、和有利情况下在线监测的特性,在磨损、腐蚀、溅射等材料表面损失过程监测和研究中具有独特的优势。本工作选择9MeV的质子对不锈钢材料进行活化,对其进行磨损行为的模拟研究。 相似文献