红外激光心肌打孔规律的实验研究

报告了CO_2激光和Er:YAG激光在心肌组织上进行打孔的实验结果。给出了三条实验曲线:输出功率为100W时,CO_2激光心肌打孔的孔深和打孔时间的关系曲线;打孔时间为0.3s时,CO_2激光心肌打孔的孔深和输出功率的关系曲线;脉冲能量为500mJ时,Er:YAG激光心肌打孔的孔深和脉冲数的关系曲线。并对实验结果进行了分析研究,为激光心肌血管重建术的临床应用提供了一个参考。     

激光心肌血管重建术——CO_2激光心肌打孔规律的研究

研究了连续输出的 CO_2激光在心肌组织上的打孔规律。通过实验获得了 CO_2激光心肌血管重建的理想参数。     

固化温度曲线对聚酰亚胺薄膜稳定性的影响

The effects of cure temperature history on the stability of hinged structure poly(4,4-oxydiphenylene pyromellitimide)(PMDA-ODA) polyimide were studied by dynamic mechanical analysis.The polyimide films were cured under different curing conditions and peeled off by substrate etching.It was found that a proper cure time and temperature ramp rate improves the stability in terms of higher glass transition temperature.Ninety minutes at 375℃or 200℃is a beneficial high glass transition temperature.The temperature ramp rate should be between 2℃/min and 10℃/min,which is neither too high nor too low.     

多芯片组件散热的三维有限元分析

基于有限元法的数值模拟技术是多芯片组件(Multichip Module)热设计的重要工具。采用有限元软件ANSYS建立了一种用于某种特殊场合的MCM的三维热模型,对空气自然对流情况下,MCM模型的温度分布和散热状况进行了模拟计算。并定量分析了空气强迫对流和热沉两种热增强手段对MCM模型温度分布和散热状况的影响。研究结果为MCM的热设计提供了重要的理论依据。     

倒装芯片化学镀镍/金凸点技术

本文对倒装芯片化学镀镍/金凸点技术进行了阐述。文中主要讨论了化学镀镍/金凸点的表面形貌、均匀性及其在铝电极上的附着性能等问题。     

基于岭估计和L曲线的损伤识别技术研究

为了解决结构损伤方程求解的可靠性问题,提出了基于岭估计和L曲线的损伤方程求解方法。首先描述了基于模态应变能灵敏度的结构损伤方程,然后考虑测量噪声等因素易造成病态的损伤方程问题,提出了采用岭估计求解结构的损伤方程,并利用L曲线确定最优的岭参数,最后建立了损伤估计值的修正方法。数值仿真结果表明,基于修正的岭估计和L曲线方法可以较为精确地识别出损伤的位置和程度,而且其定量识别结果明显好于基本的岭估计和L曲线方法以及一般的截断奇异值分解法。     

三种典型的控制网络总线分析

首先介绍了Ethernet,ControlNet,CAN三种典型的控制总线,讲述了其性能和规范,根据控制系统实时性要求高的特点,重点比较分析了其MAC子层的性能特点,分析给出了三种控制总线传输时延的估算方法,并通过一个实例介绍了如何根据系统要求进行控制总线的选择.为控制系统设计中总线选择问题提供理论指导.     

固态发酵酒糟醋与传统醋的比较研究

采用固态发酵工艺生产酒糟醋,不仅能节约粮源,而且生产出来的酒糟醋在色泽、口感、理化指标、卫生标准等方面均符合国家食醋的标准,并且酒糟醋与传统食醋相比具有更好的食用价值,同时具有抑癌作用.     

枇杷叶中熊果酸的提取工艺研究

对超声波辅助提取枇杷叶中的熊果酸进行较为系统的研究。选择乙醇体积分数、提取时间、液固比、提取次数、物料的粒子大小5 个影响因素,运用均匀设计法安排实验,以高效液相色谱测定熊果酸的含量。以提取率为实验指标,用自主提出的可视分析方法对多维空间实验数据进行分析,并且以20 倍原料量进行了尚佳工艺放大实验。最终确定最佳工艺范围为乙醇体积分数80%～100%、提取时间50～65min 和80～100min,提取次数1 次。此类提取中,液固比和物料的粒子大小对提取率影响复杂。     

铝阳极氧化基板制备过程对埋置型Ta-N薄膜电阻的影响

在铝阳极氧化多层基板内用RF反应溅射制备了埋置型Ta-N薄膜电阻,研究了铝阳极氧化过程对Ta-N薄膜电阻和显微结构的影响.实验结果表明:Ta-N薄膜受上层多孔氧化铝膜影响在表层形成了由Ta2O5和Ta-O-N组成的氧化物凸起绝缘层,氧化物凸起层厚度与氧化电压有关.底层Ta-N薄膜电阻率和电阻温度系数基本保持不变,表层氧化凸起使电阻稳定性增加.