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991.
本文简述了反向光发射单元核心器件FP激光二极管的主要特点,介绍了FP激光二极管的性能和参数的物理意义,解读了FP激光二极管产品的参数表及曲线组图,提出了反向光发射单元在使用和维护中应注意的几个问题。 相似文献
992.
993.
994.
995.
996.
硫酸镁直接热解制备氧化镁的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
利用热重分析-差示扫描量热分析(TG-DSC)和X射线衍射分析法(XRD)分析研究了由氯化镁制得的硫酸镁的脱水与热分解过程。考察了热解温度、热解时间和粒径等因素对无水硫酸镁热分解产生氧化镁的速率的影响。实验表明,七水硫酸镁的脱水过程在60~300℃时完成,无水硫酸镁的热分解在950~1 150℃时完成。通过控制固相分解的工艺条件,可将硫酸镁的脱水和热解阶段分离,无水硫酸镁可直接热解制备高纯氧化镁。利用正交实验优化工艺条件得出,粒径为109μm的硫酸镁在400℃条件下脱水0.5 h,再在坩埚电阻炉中1 100℃恒温热解1 h,可得到质量分数为99.8%的立方晶型高纯氧化镁。 相似文献
997.
在我发烧的早期,前辈教我用“牛”压上机壳顶调声。这一招果然有用,我曾经用过大小不同、年代不同的废“牛”。又尝试机顶的不同位置,结果都有不一样的音效改善或衰退。 相似文献
998.
999.
1000.
在对电容法测量Si片厚度的原理分析基础上,根据电阻率与介质介电常数ε的对应关系,分析了用电容法测试Si片厚度时,电阻率及电阻率均匀性对测试结果的影响,并采用千分尺(有接触测试)、ADE6034及Wafer Check 7000(电容法测试)分别对不同电阻率及电阻率均匀性的样品进行测试比对。实验结果证明,电容法可以测量高电阻率Si片的厚度等几何参数,但不能测量电阻率均匀率较差的Si片。同时,校正电容法测量设备时,以校正样片电阻率与被测Si片电阻率范围接近为原则。 相似文献