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通过器件模拟仿真软件Sentauras和高分辨率透射电子显微镜(High-Resolution Transmission Electron Microscopy ,简称HRTEM)研究了4H-SiC结势垒肖特基二极管(Junction Barrier Schottky ,简称JBS)在反向浪涌电压应力作用下的失效机理;进而重点研究了结终端扩展区(Junction Termination Extension ,简称JTE)的长度、深度和掺杂浓度对该器件反向浪涌峰值电压(Maximum Surge Peak Reverse Voltage ,简称VRSM)的影响,并结合JBS的基本结构对其进行优化设计;最后,流片测试显示优化设计的4H-SiC结势垒肖特基二极管的VRSM值约为1450V,比原器件提升了20%左右。 相似文献
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系统对比了不同有机传输材料与Cs2CO3组合对阴极电子注入能力的影响。结果表明,二氮菲类衍生物与Cs2CO3组合电子注入能力最好,唑类衍生物次之,但都明显好于目前常用的Alq3材料。通过进一步比较发现,电子注入能力与有机材料的能级结构没有直接关系,这说明阴极界面处Cs2CO3与有机材料会发生不同程度的化学作用,从而改变电子注入势垒。对于金属螯合物而言,Alq3的电子注入能力明显强于Liq,说明配位金属可能参与了该作用过程。研究表明了Cs2CO3对有机材料具有较强的选择性,可以为设计合成针对Cs2CO3阴极结构的有机电子材料提供参考。 相似文献
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基于电荷泵法的N-LDMOS界面态测试技术研究 总被引:1,自引:0,他引:1
详细研究了高压N-LDMOS器件的电荷泵(CP)测试技术,指出了高压N-LDMOS器件的特殊结构对其CP测试结果的影响,并解释了高压N-LDMOS器件的CP曲线不饱和的原因,同时对由于不同的源漏偏压造成的高压N-LDMOS器件CP曲线的变化进行了深入的理论分析。这些结论可以为CP法测量界面态密度提供实验指导,同时为更加准确地分析高压LDMOS器件的CP测试曲线提供理论指导。 相似文献
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