石英晶体谐振器负载谐振参数测量方法的改进

在基于阻抗计方法测量石英晶体谐振器的负载谐振频率和负载谐振电阻时,由于负载电容的接入造成石英晶体谐振器与负载电容接点对地的高阻抗,使得接点对地分布电容和晶体插座电容成为影响其测量精度的主要原因,这种影响的数量关系可以根据石英晶体谐振器的实际电参数模型导出。采用内置的负载电容并由内置的电容计对等效负载电容实现实时测量,采用间接测量方法测量负载谐振电阻,可显著提高其负载谐振参数的测量精度。     

基于LabVIEW和多传感器融合技术的数据中心温湿度监控系统

为了改善传统的使用人工方法监控机房环境的状况,提出以多传感器融合技术为基础,LabVIEW为开发平台的数据中心温湿度监控系统,实现了对数据中心温湿度的实时采集、记录、存储和回放等各项功能.该系统采用多传感器数据融合技术对机房温湿度环境因子进行数据融合,对数据中心环境状况做出更为准确的判断.通过实验证明,该监控系统能够满足数据中心温湿度环境监控的要求,具有系统实用性和扩展性强的优点,为以后扩展其他环境因子监测做好了准备,并且也是LabVIEW参与实际应用的一次有益探索.     

一种基于最小二乘支持向量机法的常见废弃塑料分类方法

将最小二乘支持向量机法（LS_SVM）应用于中红外光谱分析,建立一种新的对常见废弃塑料进行分类的方法。依据不同类别的塑料在红外波段具有不同的特征吸收峰,采用LS_SVM方法对塑料的中红外光谱数据进行处理,并与全局相关法、系统比较法进行比较。实验结果表明,LS_SVM进行分类的正确率为0．92。与全局相关法和系统比较法相比,LS_SVM分类正确率较高,其解决小样本问题效果显著,可应用于常见废弃塑料的分类。     

测量模式的演进与“M+N”理论的提出

提高测量精度和增加测量对象类别是测量的永恒主题,测量模式已由从最初的直接测量,发展到间接测量,以及正处萌芽状态、更复杂的建模测量。在建模测量中影响测量精度的因素更多更隐蔽,为提高测量精度与可靠性造成巨大障碍。为此,提出了提高建模测量精度有效且通用的"M+N"理论,并以多种成份溶液的光谱分析为例,证明了"M+N"理论的可行性,为研发测量仪器以及提高测量精度奠定了基础。     

相位差可调的双通道信号发生器的设计

为了调节两路相同频率正弦信号之间的相位差,采用DDS技术设计了相位关系可调的双通道信号发生器。该信号发生器的输出频率范围为0Hz～150MHz,频率分辨率为1滋Hz,相位调节范围为0°～360°,分辨率为0.022°。它不仅可输出两路相同频率、相位差可调的正弦信号,而且可分别作为两路独立的可调频、调幅、调相的信号发生器使用。     

石英晶体谐振器电参数模型及对测量的影响

论文分析了用阻抗计法测量石英晶体谐振器时,晶体的实际电参数模型与理论模型的差别及其对电参数测量精度影响的数量关系,提出了提高测量精度的方法和设计。采用新技术和方法研制的晶体自动测试系统,负载谐振参数的测量精度显著提高。这一工作对提高阻抗计型晶体测试系统的测量精度,特别是提高晶体负载谐振频率和负载谐振电阻的测量精度具有重要意义。     

π网络法石英晶体谐振器测试技术研究

为了提高石英晶体谐振器参数的测量精度,对π网络法测量石英晶体谐振器参数的原理及π网络中分布参数对测量精度的影响进行了研究,在此基础上,设计并制作了π网络最大传输法石英晶体测量实验系统,实验系统在1～120MHz的测试范围内,石英晶体谐振器串联谐振频率的测试精度为±2ppm。测试方法符合国际标准,性能指标优于目前国内使用的阻抗计型测试仪器。     

π网络分布参数对石英晶体频率测量的影响

采用π网络零相位法测量石英晶体串联谐振频率时,π网络中的分布参数会在π网络中引入相移,从而对石英晶体串联谐振频率的测量精度产生较大影响.采用补偿网络并适当选取补偿器件,比如电阻、电感和电容的串联或并联组合等,可以提高串联谐振频率的测量精度至±2 ×10-6范围内.实验中使用的电阻、电感和电容都是定值器件,如果全部换用可变器件,则可能更加精确地确定补偿器件并获得更好的实验结果.     

基于单片机的石英晶片镀膜测控系统设计

本文阐述了石英晶片真空蒸发镀膜测控的基本原理和镀膜过程中石英晶片谐振频率变化与镀膜厚度之间的关系。主要研究了以W77E516单片机为核心,配合其它相关芯片完成石英晶片真空蒸发镀膜过程测控系统的工作原理和实现方案,重点阐述了该系统的硬件设计和软件设计方法。     

基于兀网络零相位法石英晶体激励电平相关性的研究

本文阐述了基于Ⅱ网络零相位法石英晶体测量中改变激励电功率列石英晶体电参数的影响。主要以Ⅱ网络零相位法为测量方法，配以软件调节，硬件补偿等措施改变施加在石英晶体两端的激励功率，从而完成激励功率相关性的研究。重点阐述系统电阻校准方法和串联谐振电阻的测量。